用“字母一數(shù)字一字母”這種代碼形式來表示I類陶瓷溫度系數(shù)的方法已經(jīng)被廣泛應(yīng)用，并被美國電子工業(yè)協(xié)會(huì)（EIA)標(biāo)準(zhǔn)198所采用。

a

b

c

d

e

f

溫度系數(shù)的有效數(shù)字 (ppm/C)

a列的代碼

a列的乘數(shù)

c列的代碼

誤差范圍 (ppm/C)

e列的代碼

0.0

C

-1.0

0

30

G

1.0

M

-10

1

60

H

1.5

P

-100

2

120

J

2.2

R

-1000

3

250

K

3.3

S

-10000

4

500

L

4.7

T

+1

5

1000

M

7.5

U

+10

6

2500

N

+100

7

+1000

8

+10000

9

片式電容器中Zui常用的I類介質(zhì)是COG，溫度系數(shù)為0ppm/°C±30 ppm/°C，也就是

MIL標(biāo)準(zhǔn)中的NPO(負(fù)一正一零)，其具有很平的溫度系數(shù)。聯(lián)系歐陽免 費(fèi)索樣

實(shí)際測量的溫度系數(shù)并非符合完美的線性關(guān)系，但只要其數(shù)值不超出E1A代碼Zui后一個(gè)字母所規(guī)定的公差范圍就可以接受：

舉例：

C0G -0 ppm/°C±30 ppm/C (N220)

S2L -330 ppm/C±500 ppm/C (N330)

U2J -750 ppm/°C 土 120ppm/C (N750)       

M7G -100 ppm/C±30 ppm/C (P100)

II類介質(zhì)由節(jié)H中所介紹的鐵電體所組成。這類介質(zhì)的介電常數(shù)比I類介質(zhì)高得多，但其性能隨溫度、電壓、頻率和時(shí)間變化的穩(wěn)定性較差。由于鐵電陶瓷性能的多樣化，有必要根據(jù)溫度特性將此類介質(zhì)分為兩個(gè)亞類。

“穩(wěn)定的中K”II類瓷，以25C為基準(zhǔn)，在-55C到125C的范圍內(nèi)   溫度系數(shù)為土 15%。此種介質(zhì)的介電常數(shù)在600到4000之間，與EIA中X7R的性質(zhì)相符。

“高K”II類瓷，溫度系數(shù)超出X7R的水平。這種高K介質(zhì)的介電常數(shù)高達(dá) 4000?18000，但溫度系數(shù)曲線非常陡峭，原因在于居里點(diǎn)移動(dòng)到室溫附近，出現(xiàn)了   的介電常數(shù)。

a

b

c

d

e

f

下限工作溫度C

a列的代碼

上限工作溫度C

c列的代碼

   容量變化率 ±%AC

e列的代

碼

+10

Z

+45

2

1.0

G

-30

Y

+65

4

1.5

H

-55

X

+85

5

2.2

J

+105

6

3.3

K

+125

7

4.7

L

+150

8

7.5

M

10.0

P

15.0

R

22.0

S

+22-33

T

+22-56

U

+22-82

V

用于片式電容器制造的Zui普遍的中K材料為X7R(-55C到125C內(nèi)AC   值土 15%)。而對于高K類材料，Z5U(+10C到+85C內(nèi)AC   值+22%?-56%)和Y5V(-30C到+85