I類瓷的溫度系數(shù)（T.C.)用ppm/C表示，而II類瓷用％AC。測量溫度系數(shù)的方法是將片式電容器樣品置于溫度可控的溫度實(shí)驗(yàn)室或“T.C.”實(shí)驗(yàn)室中，地讀取不同溫度（通常為-55C、25C、125C)下的電容量。顯然，精密的夾具和測試儀器就變得非常重要了，特別是測量小電容量時，其ppm/C數(shù)值非常小，容量較基準(zhǔn)值的變化往往遠(yuǎn)小于1皮法。由于存在去老化性，因此在測高K的II類介質(zhì)時就必須注意。如果在加熱過程中對去老化的樣品進(jìn)行測量，其T.C.結(jié)果肯定是錯誤的；所以T.C.測量必須在對電容器去老化后至少一個小時才能進(jìn)行。

采用下面的表達(dá)式就可以計(jì)算出任何給定的溫度范圍內(nèi)I類介質(zhì)的溫度系數(shù)，單位為 ppm/C:

T.C.(ppm/C) = [(C2 -Ci) / Ci(T2 -Ti)]106

這里：Ci= Ti下的電容量 C2 =T2下的電容量且 T2> Ti 舉例：某一樣品的電容量測量值如下：      

-55。。，1997 pF 25C, 2000 pF 125。，2004 pF 則-55C到25C范圍內(nèi)的T.C.斜率為：

T.C. = [ (2000-1997) 106]/ 1997[25-(-55)] = 18.7 ppm/C 25C到125C范圍內(nèi)的TC.斜率為：

T.C. = [ (2004-2000) 106]/ 2000(125-25) = 20.0 ppm/C II類介質(zhì)的溫度系數(shù)是以在室溫基準(zhǔn)值上變化的百分?jǐn)?shù)來表示的，其變化量較線性介質(zhì)

大了好幾個數(shù)量級。

B.介質(zhì)的分類

I類介質(zhì)由于其采用非鐵電（順電）配方，以TiO2為主要成分（介電常數(shù)小于150)，因此具有Zui穩(wěn)定的性能。通過添加少量其他（鐵電體）氧化物，如CaTiOs或SrTi〇3，構(gòu)成 “擴(kuò)展型”溫度補(bǔ)償陶瓷則可表現(xiàn)出近似線性的溫度系數(shù)，介電常數(shù)增加至500。兩種類型的介質(zhì)都適用于電路中對穩(wěn)定性要求很高的電容器，即介電常數(shù)無老化或老化可忽略不計(jì)， 低損耗（DF<0.001，或?qū)τ跀U(kuò)展型T.C.介質(zhì)DF<0.002)，容量或介質(zhì)損耗隨電壓或頻率的變化為零或可忽略不計(jì)以及線性溫度特性不超出規(guī)定的公差。