華科智源-二極管浪涌電流是指電源線接通瞬間或是在電路出現(xiàn)異常情況下產(chǎn)生的遠(yuǎn)大于穩(wěn)態(tài)電流的峰值電流或過(guò)載電流。
半導(dǎo)體器件在工作時(shí)，有時(shí)要承受較大的沖擊電流，器件的用途不同，要求器件能承受浪涌電流的能力也不同，為了檢測(cè)器件承受浪涌電流的能力，可產(chǎn)生一個(gè)大的浪涌電流施加于被測(cè)器件上，從而檢測(cè)被測(cè)器件是否能承受大浪涌電流的沖擊。
華科智源浪涌電流試驗(yàn)儀的測(cè)試方法符合JB/T7626-2013中的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。浪涌電流試驗(yàn)臺(tái)，是二極管等相關(guān)半導(dǎo)體器件測(cè)試的重要檢測(cè)設(shè)備，該設(shè)備具有如下特點(diǎn)：
1、該試驗(yàn)臺(tái)是一套大電流、高電壓的測(cè)試設(shè)備，對(duì)設(shè)備的電氣性能要求高。
2、該試驗(yàn)臺(tái)的測(cè)試控制完全采用自動(dòng)控制，測(cè)試可按測(cè)試員設(shè)定的程序進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試。
3、該試驗(yàn)臺(tái)采用計(jì)算機(jī)記錄測(cè)試結(jié)果，并可將測(cè)試結(jié)果轉(zhuǎn)化為EXCEL文件進(jìn)行處理。
4、該套測(cè)試設(shè)備主要由以下幾個(gè)單元組成：
a、浪涌測(cè)試單元
b、阻斷參數(shù)測(cè)試單元
c、計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)
2.1 環(huán)境要求：
1、環(huán)境溫度：15—40℃
2、相對(duì)濕度：存放濕度不大于80%
3、大氣壓力：86Kpa—106Kpa
4、海拔高度：1000米以下
5、電網(wǎng)電壓：AC220V±10%無(wú)嚴(yán)重諧波
6、電網(wǎng)頻率：50Hz±1Hz
7、電源功率：小于1.5KW
8、供電電網(wǎng)功率因數(shù)：＞0.9
2.2主要技術(shù)指標(biāo)：
1、浪涌電流（ITSM/IFSM）測(cè)試范圍：30～1200A；選配3000A,8000A,20kA,50kA等
2、浪涌電流（ITSM/IFSM）精度要求：顯示分辨率1A精度±3%
浪涌電流（ITSM/IFSM）波形：近似正弦半波；
3、 浪涌電流底寬：8.3和10ms；選配1ms,10us等
4、 測(cè)試頻率：?jiǎn)未?；重?fù)
5、 反向電壓（VRRM）測(cè)試范圍：200～2000V；
6、 反向電壓（VRRM）顯示分辨率10V，精度±3%；
7、 反向電壓頻率：DC直流
8、 各種模塊均手動(dòng)連接，并以單管形式測(cè)試。
9、 采用計(jì)算機(jī)控制、采樣及顯示；
IGBT測(cè)試儀,功率器件測(cè)試儀,首件檢測(cè)儀
半導(dǎo)體及芯片測(cè)試設(shè)備、功率器件及模塊測(cè)試設(shè)備、分析儀器的研發(fā)、設(shè)計(jì)與銷(xiāo)售 儀器儀表、測(cè)試測(cè)量設(shè)備、自動(dòng)化生產(chǎn)設(shè)備及夾具治具的研發(fā)、銷(xiāo)售、租賃及技術(shù)咨詢與上門(mén)維修 光電、機(jī)電、電子產(chǎn)品的技術(shù)開(kāi)發(fā)、銷(xiāo)售及售后服務(wù) 軟件開(kāi)發(fā)及信息系統(tǒng)集成服務(wù) 電子、化工材料(以上均不含危險(xiǎn)化學(xué)品、易制毒化學(xué)品、成品油)的銷(xiāo)售 經(jīng)營(yíng)電子商務(wù) 國(guó)內(nèi)外貿(mào)易,貨物及技術(shù)進(jìn)出口(法律、行政
深圳市華科智源科技有限公司，是一家專(zhuān)業(yè)從事功率半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)自主研發(fā)制造與綜合測(cè)試分析服務(wù)的高新技術(shù)企業(yè)，坐落于改革開(kāi)放之都-中國(guó)深圳，核心業(yè)務(wù)為半導(dǎo)體功率器件智能檢測(cè)準(zhǔn)備研制生產(chǎn)，公司產(chǎn)品主要涉及MOS管直流參數(shù)測(cè)試儀，MOS管動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀，IGBT測(cè)試儀，IGBT動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀，功率循環(huán)，雪崩及浪涌測(cè)試設(shè)備，產(chǎn)品以高度集成化、智能化、高速、超寬測(cè)試范圍等競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)，將廣泛應(yīng)用于IDM廠商、器件設(shè)計(jì)、制造、封...