HUSTEC-1600A-MT
功率器件靜態(tài)參數(shù)測試儀
PowerDevice Static Parameter Tester
產(chǎn)品簡介 Introducion
HUSTEC-1600A-MT是一款大功率器件參數(shù)測試儀,可用于IGBT單管及模塊,SIC器件,MOS管,二極管等功率器件的靜態(tài)參數(shù)測試。
產(chǎn)品測試電流電壓為1600A,±5000V,向下兼容,可升級到3KA/10KV.
VGE可達(dá)±100V;開啟電壓VGETH支持兩種測試方法;
采用插槽式設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu),便于升級和維護(hù);
設(shè)備支持SI基,SIC材料的MOS管,IGBT單管及模塊,二極管測試,晶閘管測試,
自動進(jìn)行分檔測試,既覆蓋大功率特征下的測試范圍,又可保證小功率器件測試精度
支持單點(diǎn)測試,I-V曲線掃描,還具有曲線對比功能;同一規(guī)格型號,不同批次的產(chǎn)品曲線對比,同一規(guī)格,不同廠家之家的產(chǎn)品曲線對比
開放通訊接口,可以連接探針臺做wafer/ chip 測試,也可以連接HANDLE,夾具及適配器做模塊測試,
測試數(shù)據(jù)可存儲為Excel文件,WORD報(bào)告
技術(shù)指標(biāo)Technical Specifications
技術(shù)指標(biāo) | ||||||
★ | 3.4 | VGE(th)柵極閾值電壓 | VGE:0.1~10V±1%±0.01V; | |||
3.5 | VGE(th) 測試條件與精度 | 集電極電流Ic: 10~50mA±1%±0.5mA; 50~200mA±1%±1mA; 200~1000mA±1%±2mA; | ||||
★ | 3.6 | VCES集射極截止電壓 | VCES:0-5000V±1%±2V; | |||
3.7 | VCES | 集電極電流ICES: 0.01~1mA±3%±0.001mA; 1~10mA±2%±0.01mA; 10~50mA±1%±0.1mA; | 3.8 | ICES集射極截止電流 | 集電極電流ICES:0.01~50mA 0.001~1mA±3%±0.001mA; | |
3.9 | ICES | 集電極電壓VCES:50~500V±1%±1V; 500~5000V±1%±2V; | ||||
★ | 3.10 | VCE(sat)飽和導(dǎo)通壓降 | 集電極電壓VCEs:0.001~10V±0.5%±0.001V | |||
3.11 | VCE(sat)
| 柵極電壓Vge:5~40V±1%±0.01V 集電極電流ICE:0-1600A 0~100A±1%±1A; 100~1600A±1%±1A; | 3.12 | Iges柵極漏電流 | 柵極漏電流IGEs:0.01~10μA±2%±0.005μA | |
3.13 | Iges測試條件與精度 | 柵極電壓Vge:±1V~100V±1%±0.1V;Vce=0V; | ||||
★ | 3.14 | VF正向特性測試 | 二極管導(dǎo)通電壓Vf:0.1~10V±1%±0.01V | |||
**** | 電流IF:0~100A±2%±1A; 100~1600A±1%±2A; | |||||
IGBT測試儀設(shè)備 , 大功率IGBT測試儀 , 大功率IGBT測試設(shè)備
IGBT測試儀,功率器件測試儀,首件檢測儀
半導(dǎo)體及芯片測試設(shè)備、功率器件及模塊測試設(shè)備、分析儀器的研發(fā)、設(shè)計(jì)與銷售 儀器儀表、測試測量設(shè)備、自動化生產(chǎn)設(shè)備及夾具治具的研發(fā)、銷售、租賃及技術(shù)咨詢與上門維修 光電、機(jī)電、電子產(chǎn)品的技術(shù)開發(fā)、銷售及售后服務(wù) 軟件開發(fā)及信息系統(tǒng)集成服務(wù) 電子、化工材料(以上均不含危險(xiǎn)化學(xué)品、易制毒化學(xué)品、成品油)的銷售 經(jīng)營電子商務(wù) 國內(nèi)外貿(mào)易,貨物及技術(shù)進(jìn)出口(法律、行政
深圳市華科智源科技有限公司,是一家專業(yè)從事功率半導(dǎo)體測試系統(tǒng)自主研發(fā)制造與綜合測試分析服務(wù)的高新技術(shù)企業(yè),坐落于改革開放之都-中國深圳,核心業(yè)務(wù)為半導(dǎo)體功率器件智能檢測準(zhǔn)備研制生產(chǎn),公司產(chǎn)品主要涉及MOS管直流參數(shù)測試儀,MOS管動態(tài)參數(shù)測試儀,IGBT測試儀,IGBT動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng),IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀,功率循環(huán),雪崩及浪涌測試設(shè)備,產(chǎn)品以高度集成化、智能化、高速、超寬測試范圍等競爭優(yōu)勢,將廣泛應(yīng)用于IDM廠商、器件設(shè)計(jì)、制造、封...