測量顯微鏡 金相顯微鏡
◆X坐標(biāo)行程: 200(mm)
◆Y坐標(biāo)行程:200(mm)
◆Z坐標(biāo)行程:100(mm)
◆X、Y坐標(biāo)測量示值誤差≤(3+L/150)μm ,L為被測長度(單位:mm)
◆X、Y、Z數(shù)顯分辨率:0.0001mm
配備金線測量視覺影像測量軟件,帶十字線捕捉閃爍功能,搭配設(shè)備的的電動0.1um粗微調(diào)功能,可測量弧高,線長,線寬,線徑,球厚,焊線長度,焊點深度等功能,全部采用設(shè)備自動識別,無需人工對焦,可對接MESS系統(tǒng),實時上傳數(shù)據(jù)到服務(wù)器進(jìn)行尺寸比對,提供視覺拍照功能:可通過軟件抓拍實時產(chǎn)品圖片,然后保存到計算機(jī)里,并可通過軟件調(diào)出圖片進(jìn)行查看或處理;
dage4000; ths-10,mfm1200;芯片開封機(jī);超聲波掃描顯微鏡;芯片開蓋機(jī);union測量顯微鏡 ;防爆片測厚儀;激光開封機(jī);
電子產(chǎn)品、電子檢測設(shè)備、機(jī)電設(shè)備、化工產(chǎn)品的購銷(以上不含易燃、易爆、危險化學(xué)品);信息咨詢(不含職業(yè)介紹及其他國家禁止、限制項目);國內(nèi)貿(mào)易(法律、行政法規(guī)、國務(wù)院決定規(guī)定在登記前須經(jīng)批準(zhǔn)的項目除外);貨物及技術(shù)進(jìn)出口(法律、行政法規(guī)禁止的項目除外,法律、行政法規(guī)限制的項目須取得許可后方可經(jīng)營)。
深圳克拉克貿(mào)易有限公司從事可靠性測試設(shè)備的銷售和測試服務(wù)。一、電子行業(yè)的失效分析設(shè)備銷售及測試服務(wù)芯片分析手段匯總(xray,SAT,DECAP,Bond Tester,SEM,Laser Decapsulator)1.)激光開蓋機(jī) 激光開封機(jī) IC開蓋 芯片開蓋 IC開蓋,時間約30秒左右,特別是銅引線封裝有很好的開封效果.(用戶長電,蘋果)2)日本UNION HISOMET顯微鏡 測量焊球、邦定線高度 Z軸測量誤差低于1...