X射線探傷是指利用X射線能夠穿透金屬材料，并由于材料對(duì)射線的吸收和散射作用的不同，從而使膠片感光不一樣，于是在底片上形成黑度不同的影像，據(jù)此來判斷材料內(nèi)部缺陷情況的一種檢驗(yàn)方法。

　　當(dāng)X射線穿透物質(zhì)時(shí)，由于射線與物質(zhì)的相互作用，將產(chǎn)生一系列極為復(fù)雜的物理過程，其結(jié)果使射線被吸收和散射而失去一部分能量，強(qiáng)度相應(yīng)減弱，這種現(xiàn)象稱之為射線的衰減。X射線探傷的實(shí)質(zhì)是根據(jù)被檢驗(yàn)工件與其內(nèi)部缺欠介質(zhì)對(duì)射線能量衰減程度不同，而引起射線透過工件后強(qiáng)度差異，使感光材料（膠片）上獲得缺欠投影所產(chǎn)生的潛影，經(jīng)過暗室處理后獲得缺欠影像，再對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定工件內(nèi)部缺欠的性質(zhì)和底片級(jí)別。

X射線探傷除照相法外，還有X射線熒光屏觀察法、電視觀察法。

1．X射線照相法這種方法是用感光膠片代替熒光觀察法的熒光屏，當(dāng)膠片被X射線照射而感光后，復(fù)經(jīng)顯影，即可顯現(xiàn)出不同的感光程度。若射線的強(qiáng)度越大，則膠片的感光越多，顯影后的黑度就越大。當(dāng)某處與周圍對(duì)比的黑度較大時(shí)，則可確認(rèn)存在缺陷。照相法的靈敏度高、適應(yīng)性強(qiáng)，同時(shí)膠片可長(zhǎng)期保存待查。但程序較多、費(fèi)時(shí)、成本較高。

2．X射線熒光屏觀察法X射線透過被檢查物體后，把不同強(qiáng)度的射線，再投射在涂有熒光物質(zhì)的熒光屏上，激發(fā)出不同強(qiáng)度的熒光而得到物體的影像。如果我們能直接從熒光屏上觀察缺陷影像，就稱為X射線熒光屏觀察法。熒光屏觀察法所用的設(shè)備是X射線發(fā)生器及其控制設(shè)備；熒光觀察屏；觀察和記錄用的輔助沒備；防護(hù)及傳送設(shè)備等。

3．X射線電視觀察法X射線照相法既費(fèi)工時(shí)，又不經(jīng)濟(jì)，不適宜于批量生產(chǎn)的工廠。然而，X射線熒光屏觀察法由于成象的光亮度差、靈敏度低，并且大多在熒光透視箱內(nèi)進(jìn)行，故也未廣泛采用。隨著光電微光技術(shù)的發(fā)展，微光象增強(qiáng)器和攝象管得到重視和廣泛應(yīng)用。