棒材中常見的缺陷除在注錠階段潛伏的縮殘、氣泡、白點(diǎn)、夾雜等缺陷外，在開坯初軋成形等塑性加工過(guò)程中，還會(huì)產(chǎn)生過(guò)燒、粗晶、折迭、翅皮、裂紋等缺陷。棒材中的缺陷一般以縱向居多。

　　探測(cè)大直徑(大于80毫米)的棒材時(shí)，探測(cè)頻率一般選用2.5兆赫;探測(cè)中直徑(40~80毫米)及小直徑(小于40毫米)的棒材時(shí)，選用5兆赫以上。探測(cè)直徑較大的棒材，可用縱波接觸法，而直徑小的棒材或自動(dòng)探測(cè)時(shí)，可采用液浸法。為提高發(fā)現(xiàn)缺陷的能力，通常采用液浸法聚焦探頭。

　　一、縱波和橫波探測(cè)

　　采用縱波液浸法探測(cè)棒材時(shí)，探頭固定在可調(diào)節(jié)的“V”形槽架上，將探頭架置于與棒材直徑相同、并具有人工缺陷的參考樣棒上，調(diào)節(jié)探頭使聲波主線垂直于人土孔平面，并調(diào)節(jié)探頭與棒材表面的液體厚度，使第二次界面波出現(xiàn)在底波之后，然后將探頭架移至被測(cè)棒材上，沿長(zhǎng)度方向進(jìn)行探測(cè)，每探測(cè)一次后，將探頭與棒材相對(duì)移動(dòng)40°~50°圓周角，再進(jìn)行探測(cè)。一般探測(cè)3~4次即可。若棒材中有缺陷，則在一次界面波與一次底波間出現(xiàn)缺陷波。為使聲能集中，減少聲波在棒材上的散射，常將焦點(diǎn)聚在棒材圓心處或圓心以上。還可用橫波和表面波探測(cè)，這里不再介紹。

　　二、自動(dòng)探測(cè)

　　探測(cè)前，應(yīng)作靜態(tài)和動(dòng)態(tài)調(diào)試。首先將八個(gè)探頭在參考樣棒上依次調(diào)整，使其靈敏度一致，然后再作八通道探頭的自動(dòng)傳遞調(diào)試，當(dāng)八個(gè)探頭對(duì)人工缺陷依次掃查時(shí)，如熒光屏上依次出現(xiàn)缺陷波，并予報(bào)警，則靜態(tài)調(diào)試完畢。然后再作動(dòng)態(tài)調(diào)試，參考樣棒以20---30米/>91的速度通過(guò)探頭架，若缺陷報(bào)警分辨清楚，無(wú)雜波進(jìn)入報(bào)警波門，發(fā)現(xiàn)缺陷后能自動(dòng)在缺陷處打印標(biāo)記并能自動(dòng)分選，藕合油無(wú)氣泡等，此時(shí)，高速旋轉(zhuǎn)參考樣棒往返多次，確認(rèn)各部件均處于穩(wěn)定工作狀態(tài)時(shí)，則動(dòng)態(tài)調(diào)試完畢。為確保探傷結(jié)果正確可靠，應(yīng)定時(shí)地用參考樣棒進(jìn)行校驗(yàn)。

　　三、其他方法

　　棒材(直徑為20~60毫米)尚可用組合雙探頭探測(cè)，組合雙探頭，由兩塊晶片組成(一發(fā)、一收)，兩晶片互成角度放在與棒材曲面相吻的有機(jī)玻璃塊上，其夾角以85°95°為佳(兩晶片中心與棒材中心連線的夾角)。由于發(fā)射晶片的聲束以某一擴(kuò)散角度入射棒內(nèi)，故棒內(nèi)即有縱波，又有折射橫波，這樣，可探測(cè)棒材中心及近邊緣的缺陷。