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高溫反偏試驗臺

報價
¥299.00元每臺
聯(lián)系手機
15596668116
品牌
天光測控
型號
ST-HTXB_X
實驗對象
Si / SiC / G

IGBT模塊進行高溫反偏試驗


  加熱及散熱系統(tǒng)

該設(shè)備測試夾具共48個工位,毎路均配置獨立的加熱及冷卻系統(tǒng),控溫范圍為:70-150±1.0℃,溫度分辨率為0.1℃。散熱器表面溫度升到目標(biāo)溫度控制在40分鐘內(nèi)。

夾具柜共分為兩個柜體,每個柜體24個工位,每個工位配有溫度控制系統(tǒng),配備溫控表顯示實時溫度。如圖溫控表上面為實時溫度,下面為設(shè)定溫度。如需溫控表的詳細參數(shù),請咨詢技術(shù)人員索要說明書。

測試技術(shù)參數(shù)

1)每個工位電流:輸出范圍0-40mA,過流保護值40Ma,

2)輸出電壓:200-4700V,分辨率10V,精度±2%±10V,(空-滿載調(diào)整率<2%),100-200V,分辨率10V,精度±5%±10V,(空-滿載調(diào)整率<2%)。

試驗電壓可設(shè)定保護值,保護動作時切斷主電路,并帶有聲光報警。

3)工位輸出電流:每個工位分為高低檔,低檔:0.1-15ma,分辨率0.1ma,精度±2%±0.1ma;**:15-40ma,分辨率0.1ma,精度±5%±0.5ma;漏電流采集模塊內(nèi)三只單管的并聯(lián)值。

漏電流可設(shè)定保護值,保護動作時切斷相應(yīng)工位主電路,并帶有聲光報警。

4)工位對IGBT封裝的兼容性:本設(shè)備適用器件尺寸190×140mm,夾具適配器調(diào)整后可兼容130×140mm尺寸。

每個工位有卡槽固定IGBT基板位置,氣缸控制適配器,氣動下壓;模塊基板采用氣動壓接方式固定在加熱體表面;本試驗臺另配氣泵等附件。

設(shè)備組成

本設(shè)備共分為四個機柜,分別為:計算機控制柜、電源柜、兩個夾具柜。

控制柜

控制柜為整個系統(tǒng)的控制及數(shù)據(jù)采集部分,利用工業(yè)控制計算機控制整個測試過程,進行實時監(jiān)控,報警并進行數(shù)據(jù)顯示。

電源柜

電源柜為整個系統(tǒng)的高壓輸出電源部分。為元件測試提供持續(xù)0-5000V高壓。并且電源具有過流保護功能。

夾具柜

夾具柜為整個測試系統(tǒng)與被測元件的測試接口。夾具柜共分為48個工位,可一次性提供48個元件同時進行測試。

技術(shù)指標(biāo)

靜態(tài)參數(shù)測試

高壓反偏測試

測試參數(shù)IR

0.01mA~2mA

0.01mA~1m±3%±0.01mA 1mA~2mA±3%±0.1mA

測試條件:

反向電壓:直流50~5000V ±3%±10V.


試驗電壓: 50~5000V ±3%±10V

器件漏電流測試范圍: 0.01mA~2mA

0.01mA~1mA±3%±0.01mA

1mA~2mA±3%±0.1mA 測試時間:

計算機設(shè)定

測試方法:

器件在特定溫度下存儲一定時間后,在設(shè)定電壓下對每只器件同 時持續(xù)加反壓進行測試,每隔1-2秒刷新一遍輸出的測試結(jié)果,監(jiān)控各器件反壓下漏電流參數(shù),并保存測試數(shù)據(jù)。

測試參數(shù)BVR

50V~5000V±3%±10V。

反向電流:0.01mA~2mA;直流方波。

0.01mA~1±3%±0.01mA; 1mA~2mA±3%±0.1mA。

測試方法

器件在特定溫度下存儲一定時間后,先測試IR ,每只 器件依次進行測試,測試間隔時間為約1S。然后同時測試BVR,依次采集電流。間隔時間為約100mS。

功能指標(biāo)

試驗高低溫度范圍

-50 oC~140oC

高低溫箱溫控精度

±1

溫度范圍

-50℃~RT

溫度波動

 ≤±2℃(空載時)

溫度均勻

 ≤±3℃(空載時)

升溫速率

不小于1~3℃/min(空載時)

供電電源

 220V±10%,50Hz±1Hz,安全接地

規(guī)格

尺    寸:1800×650×500(mm)

質(zhì)    量:175kg

測試工位:20工位

工位轉(zhuǎn)換:自動切換

耐溫范圍:-50oC~140oC

關(guān)鍵詞

半導(dǎo)體器件環(huán)境老化試驗 , IGBT高溫反偏測試 , IGBT高溫柵偏測試

更新時間
統(tǒng)一社會信用代碼
91610131MA6UUR694D
法定代表人
王軍
注冊資本
300萬

主營產(chǎn)品

半導(dǎo)體分立器件測試篩選系統(tǒng)|IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀|IGBT動態(tài)參數(shù)測試儀| 功率循環(huán)試驗臺|高溫反偏差測試系統(tǒng)

經(jīng)營范圍

工業(yè)電氣產(chǎn)品及電力電子測控設(shè)備的研發(fā)、銷售;功率半導(dǎo)體器件的開發(fā)設(shè)計;電力電子技術(shù)的技術(shù)轉(zhuǎn)讓;貨物與技術(shù)的進出口經(jīng)營(國家限制、禁止和須經(jīng)審批進出口的貨物和技術(shù)除外)。(依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項目,經(jīng)相關(guān)部門批準(zhǔn)后方可開展經(jīng)營活動)

公司簡介

西安天光測控技術(shù)有限公司 是一家專業(yè)從事 半導(dǎo)體功率器件測試設(shè)備 研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。產(chǎn)品有半導(dǎo)體分立器件測試篩選系統(tǒng)。Si , SiC , GaN 材料的 IPM , IGBT , MOS , DIODE , BJT , SCR的電參數(shù)及可靠性和老化測試。靜態(tài)單脈沖(包括導(dǎo)通、關(guān)斷、擊穿、漏電、增益等直流參數(shù))動態(tài)雙脈沖(包括Turn_ON_L, Turn_OFF_L , FRD , Qg)Rg , UIS , SC , ...

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