什么是“隱裂”

隱裂是晶體硅光伏組件的一種較為常見的缺陷，通俗的講，就是一些肉眼不可見的細微破裂（micro-crack）。晶硅組件由于其自身晶體結(jié)構(gòu)的特性，十分容易發(fā)生破裂。

在晶體硅組件生產(chǎn)的工藝流程中，許多環(huán)節(jié)都有可能造成電池片隱裂。隱裂產(chǎn)生的根本原因，可歸納為硅片上產(chǎn)生了機械應(yīng)力或熱應(yīng)力?，F(xiàn)在為了降低成本，晶硅電池片向越來越薄的方向發(fā)展，降低了電池片防止機械破壞的能力，更容易產(chǎn)生隱裂。

“隱裂”對組件性能的影響

晶硅太陽能電池的結(jié)構(gòu)如下圖所示，電池片產(chǎn)生的電流主要靠表面相互垂直的主柵線和細柵線收集和導(dǎo)出。因此，當隱裂（多為平行于主柵線的隱裂）導(dǎo)致細柵線斷裂時，電流將無法被有效輸送至主柵線，從而導(dǎo)致電池片部分乃至整片失效，還可能造成碎片、熱斑等，同時引起組件的功率衰減。

識別“隱裂”的方法

EL（Electroluminescence，電致發(fā)光）是一種太陽能電池或組件的內(nèi)部缺陷檢測設(shè)備，是簡單有效的檢測隱裂的方法。利用晶體硅的電致發(fā)光原理，通過高分辨率的紅外相機拍攝組件的近紅外圖像，獲取并判定組件的缺陷。具有靈敏度高、檢測速度快、結(jié)果直觀形象等優(yōu)點。下圖即是EL的檢測結(jié)果，清晰的顯示了各種缺陷和隱裂。

形成“隱裂”的原因

外力：電池片在焊接、層壓、裝框或搬運、安裝、施工等過程中會受外力，當參數(shù)設(shè)置不當、設(shè)備故障或操作不當時會造成隱裂。

高溫：電池片在低溫下沒有經(jīng)過預(yù)熱，然后在短時間內(nèi)突然受到高溫后出現(xiàn)膨脹會造成隱裂現(xiàn)象，如焊接溫度過高、層壓溫度等參數(shù)設(shè)置不合理。

原材料：原材料的缺陷也是導(dǎo)致隱裂的主要因素之一。