產(chǎn)品概述

AM-7000 可用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量，以"面"的形式獲取表面 3D 形貌，通過專用軟件對 3D形貌進行處理和分析，Zui高 RMS 重復(fù)性可達 0.002nm。

AM-7000 搭配大量程高速納米壓電陶瓷器件，Zui高掃描速度 400μm/秒，3200Hz，加以業(yè)內(nèi)首創(chuàng) SST+GAT算法，可瞬間完成Zui高 500 萬點云采集。

產(chǎn)品別稱：三維光學(xué)輪廓儀、光學(xué) 3D 表面輪廓儀、3D表面輪廓儀、光學(xué)輪廓儀、非接觸式白光干涉三維輪廓儀。

可測量參數(shù)

表面粗糙度（Sa/Sz、Ra/Rz）、三維輪廓與微觀形貌、臺階高度、平面度、面型、PV值、曲率、盲孔、薄膜厚度、體積/面積、角度、半徑、弧度等

核心功能與優(yōu)勢

1. 精度高：Zui高 RMS 重復(fù)性可達 0.002nm，任意放大倍率下檢測精度 <1nm。

2. 速度快：Zui高掃描速度 400μm/秒，搭配 SST+GAT 算法可瞬間完成Zui高 500萬點云采集；檢測速度較傳統(tǒng)激光顯微鏡提升 10 倍以上。

3. 大視野：可通過拼接方式測量，Zui大視野 300mm×300mm（選配）。

4. 可測高透明產(chǎn)品：低至 0.02% 反射率的高透明產(chǎn)品也可輕松采集信息并測量。

5. 非接觸無損：非接觸式測量不刮傷表面，軟質(zhì)材料亦可測，兼顧線粗糙度與面粗糙度。

6. 豐富測量工具：涵蓋面粗糙度、線粗糙度、臺階高度、輪廓分析、三維形貌、體積、面積、角度、半徑、弧度、同心度、統(tǒng)計功能、線型對比、模板設(shè)置等數(shù)十種guojibiaozhun測量分析功能。

7. 符合全球標(biāo)準(zhǔn)：ISO、GB/T、DIN、NF、JIS、UNE、UNI、BSI，提供精度合規(guī)保障。

8. 場景適配：適用于實驗室/現(xiàn)場離線測量與生產(chǎn)在線測量（SDK 可開放），并支持客制化。

技術(shù)參數(shù)（測量單元）

技術(shù)參數(shù)ER-230EX-230NA-500

像素	230 萬	230 萬	500 萬
掃描原理	白光干涉	白光干涉	白光干涉
掃描裝置	壓電陶瓷	壓電陶瓷	壓電陶瓷
掃描范圍	5000μm	400μm	100μm
Zui大掃描速度	400μm/s	400μm/s	200μm/s
被測物反射率	0.02%~	0.02%~	0.02%~
光源	白光光源，中心波長 520nm 綠光波段	白光光源，中心波長 520nm 綠光波段	白光光源，中心波長 465nm 藍光波段
傳感器重量	約 2kg	約 2kg	約 2kg
顯示分辨率	0.001nm	0.001nm	0.001nm
RMS 重復(fù)性*1	0.005nm	0.003nm	0.002nm
1-σ 臺階重復(fù)性*2	0.09%	0.06%	0.05%
1-σ 臺階準(zhǔn)度*3	0.5%	0.3%	0.2%

工作環(huán)境要求

項目參數(shù)

zuijia工作溫度	18-22 ℃
允許工作溫度	10-35 ℃
儲藏溫度	0-45 ℃
相對濕度	20-80%，無凝結(jié)
電源	AC 100-240V / 50~60Hz，~1A

安裝環(huán)境建議：保持環(huán)境整潔，無油污、液體、粉塵；避免建筑共振，建議低樓層或預(yù)設(shè)框架式結(jié)構(gòu)放置；避免機械擾動，建議遠離大型機械放置；避免氣流振動，建議遠離急促空氣流動放置；建議選配隔振機構(gòu)。