十月徠卡VisoriaM金相顯微鏡

十月徠卡VisoriaM金相顯微鏡

用于日常材料檢驗(yàn)

    使用VisoriaM材料顯微鏡，您可以檢查金屬、合金、電子和機(jī)械組件、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷等材料的微觀結(jié)構(gòu)。與Enersight軟件平臺(tái)結(jié)合使用時(shí)，您還可以執(zhí)行截面或?qū)雍穹治觥?/strong>

使用編碼的功能、優(yōu)化的光強(qiáng)設(shè)置及其他顯微鏡功能可以提高您的工作流程效率。顯微鏡的人體工學(xué)設(shè)計(jì)讓您能更加舒適地工作，大限度減少勞損。

使用數(shù)字式顯微鏡，實(shí)現(xiàn)無(wú)目鏡工作

通過(guò)優(yōu)化的光強(qiáng)設(shè)置來(lái)節(jié)省時(shí)間

使用Visoria M，您可以有更多時(shí)間來(lái)觀察和檢查樣品。如果您改變顯微鏡的放大倍率或觀察方式，則無(wú)需手動(dòng)調(diào)整亮度，

因?yàn)樗哂泄鈴?qiáng)管理功能。得益于顯微鏡的編碼功能，照明設(shè)置會(huì)自動(dòng)調(diào)節(jié)到合適的光強(qiáng)。

以合適的觀察方式呈現(xiàn)樣品細(xì)節(jié)

在工業(yè)和材料檢驗(yàn)以及研發(fā)領(lǐng)域，使用Visoria M可以觀察樣品結(jié)構(gòu)和缺陷（如劃痕或污染）的細(xì)節(jié)。 

它使用多種觀察方式，包括 

傾斜照明尤其有助于更好地觀察表面形貌。

使用0.7倍宏觀物鏡快速概覽樣品

當(dāng)您需要觀察宏觀結(jié)構(gòu)時(shí)，可以使用選配的0.7倍宏觀物鏡快速?gòu)臉悠犯庞[切換到觀察微小細(xì)節(jié)。

它讓您一眼就能看到直徑約36毫米的樣品區(qū)域，并實(shí)現(xiàn)快速定位和概覽。與使用傳統(tǒng)物鏡概覽樣品相比，使用宏觀物鏡可以節(jié)省樣品篩選時(shí)間。

您還可以使用各種物鏡在更高放大倍率下觀察樣品的微小細(xì)節(jié)。

由Enersight軟件平臺(tái)驅(qū)動(dòng)

使用VisoriaM材料顯微鏡和Enersight軟件平臺(tái)可以讓您的工作流程簡(jiǎn)化且更有效率。它提供一個(gè)直觀的界面，幫助您無(wú)縫地比較、測(cè)量和共享數(shù)據(jù)。

重要優(yōu)勢(shì)：

顯微鏡觀察方式及其應(yīng)用領(lǐng)域

使用Visoria M材料顯微鏡，以各種觀察方式高效觀察和分析零部件及材料樣品。

在電子、金屬和聚合物行業(yè)以及材料科學(xué)領(lǐng)域，您可以使用明場(chǎng)、暗場(chǎng)、DIC、偏光和斜照明方式來(lái)呈現(xiàn)表面結(jié)構(gòu)。

Visoria M可用于執(zhí)行與質(zhì)量控制、故障分析和研發(fā)相關(guān)的各類(lèi)日常檢測(cè)任務(wù)。

 · 明場(chǎng)(BF)

使用入射光明場(chǎng)觀察方式對(duì)樣品特征進(jìn)行測(cè)量。

 · 暗場(chǎng)(DF)

利用入射光暗場(chǎng)觀察方式檢測(cè)表面結(jié)構(gòu)和污染。

 · 微分干涉(DIC)

利用DIC方式檢查樣品表面以觀察起伏差異。

電子

在電子行業(yè)質(zhì)量控制中，使用Visoria M材料顯微鏡可以提升日常檢測(cè)流程。

利用多種有效的觀察方式，包括明場(chǎng)、暗場(chǎng)、斜照明、微分干涉對(duì)比(DIC)和偏光。在檢查印刷電路板(PCB)、微芯片和微電子組件時(shí)，這些觀察方式讓您能夠清晰地看到細(xì)節(jié)。

使用Visoria M可以檢測(cè)產(chǎn)品樣品上的微小缺陷和不規(guī)則之處，幫助您簡(jiǎn)化檢測(cè)流程，確保符合高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。

材料和金屬

Visoria M可幫助您對(duì)材料和金屬相關(guān)應(yīng)用進(jìn)行日常檢測(cè)。它能夠檢測(cè)和定位特定的樣品結(jié)構(gòu)及缺陷。

在宏觀結(jié)構(gòu)的檢測(cè)和記錄方面，0.7倍的宏觀物鏡可幫助您查看樣品概況。輕松切換不同的放大倍率和觀察方式，呈現(xiàn)樣品上的重要結(jié)構(gòu)，以便進(jìn)行質(zhì)量控制和故障分析。