薄膜光伏組件經(jīng)歷光照、溫度和濕度后，功率變化不一定來自同一種原因。IEC61646-2008把電性能、環(huán)境應(yīng)力及光老煉放在關(guān)聯(lián)程序中，因此復核舊版報告時，不能只比較兩次功率數(shù)字。這一版本已被后續(xù)標準替代，本文用于明確引用該版時的項目理解，不作為新項目現(xiàn)行依據(jù)的推薦。上海復興復華檢測可就送檢需求溝通版本、材料體系與安裝方式，具體可承接范圍需另行確認。

檢測對象項目/參數(shù)檢測標準（方法）序號名稱

地面用薄膜光伏組件		全部參數(shù)	地面用薄膜光伏組件 設(shè)計鑒定和定型IEC61646-2008
	1	外觀	地面用薄膜光伏組件 設(shè)計鑒定和定型IEC61646-2008 10.1
	2	大功率測試	地面用薄膜光伏組件 設(shè)計鑒定和定型IEC61646-2008 10.2
	3	絕緣性能	地面用薄膜光伏組件 設(shè)計鑒定和定型IEC61646-2008 10.3
	4	溫度系數(shù)	地面用薄膜光伏組件 設(shè)計鑒定和定型IEC61646-2008 10.4
	5	標稱工作溫度	地面用薄膜光伏組件 設(shè)計鑒定和定型IEC61646-2008 10.5
	6	STC和NOCT的性能	地面用薄膜光伏組件 設(shè)計鑒定和定型IEC61646-2008 10.6
	7	低輻照度下的性能	地面用薄膜光伏組件 設(shè)計鑒定和定型IEC61646-2008 10.7
	8	室外曝曬試驗	地面用薄膜光伏組件 設(shè)計鑒定和定型IEC61646-2008 10.8
	9	熱斑耐久試驗	地面用薄膜光伏組件 設(shè)計鑒定和定型IEC61646-2008 10.9
	10	紫外預處理試驗	地面用薄膜光伏組件 設(shè)計鑒定和定型IEC61646-2008 10.10
	11	熱循環(huán)試驗	地面用薄膜光伏組件 設(shè)計鑒定和定型IEC61646-2008 10.11
	12	濕凍試驗	地面用薄膜光伏組件 設(shè)計鑒定和定型IEC61646-2008 10.12
	13	濕熱試驗	地面用薄膜光伏組件 設(shè)計鑒定和定型IEC61646-2008 10.13
	14	引線端強度	地面用薄膜光伏組件 設(shè)計鑒定和定型IEC61646-2008 10.14
	15	濕漏電流	地面用薄膜光伏組件 設(shè)計鑒定和定型IEC61646-2008 10.15
	16	機械載荷試驗	地面用薄膜光伏組件 設(shè)計鑒定和定型IEC61646-2008 10.16
	17	冰雹試驗	地面用薄膜光伏組件 設(shè)計鑒定和定型IEC61646-2008 10.17
	18	旁路二極管熱試驗	地面用薄膜光伏組件 設(shè)計鑒定和定型IEC61646-2008 10.18
	19	光老煉試驗	地面用薄膜光伏組件 設(shè)計鑒定和定型IEC61646-2008 10.19

外觀

在試驗前后按一致照明和視角檢查玻璃、邊緣密封、膜層、接線盒及引出部位，定位裂紋、分層和異常變色。薄膜條帶或劃線區(qū)域的缺陷可能改變電流路徑，應(yīng)與電性能關(guān)聯(lián)；單憑表面平整不能排除內(nèi)部互連問題。

大功率測試

在受控輻照和溫度下取得電流電壓曲線，求取大功率點，并記錄參考器件、光譜適配及樣品預處理狀態(tài)。薄膜組件對照射歷史敏感，兩次測量若穩(wěn)定狀態(tài)不同，功率差不能直接算作環(huán)境試驗造成的損失。

絕緣性能

在電路與邊框或規(guī)定可接觸表面之間施加絕緣測試，記錄電阻及耐電應(yīng)力過程中的異常。無框組件的外表面連接方式應(yīng)適合其構(gòu)造。邊緣封裝受損可能形成漏電路徑，即便輸出功率未明顯下降，也不能忽略絕緣問題。

溫度系數(shù)

在不同組件溫度下測量相應(yīng)電參數(shù)，控制輻照條件并對數(shù)據(jù)作適當修正，建立參數(shù)隨溫度的關(guān)系。測得的是該材料與結(jié)構(gòu)的溫度響應(yīng)，不宜套用晶硅經(jīng)驗系數(shù)。溫度測點與實際電池溫度不符，會使修正后的功率產(chǎn)生系統(tǒng)偏差。

標稱工作溫度

在規(guī)定的安裝和環(huán)境條件下記錄組件溫度、環(huán)境溫度、輻照和風況，取得用于表征運行熱狀態(tài)的結(jié)果。背面通風和安裝間距是重要邊界。把開架測得的溫度直接用于緊貼屋面的安裝，可能低估實際運行溫度。

STC和NOCT的性能

分別在標準測試條件與標稱工作溫度所對應(yīng)條件下取得或修正組件電性能，保留所用溫度及輻照數(shù)據(jù)。兩組結(jié)果服務(wù)于不同的比較目的。高溫狀態(tài)功率較低不一定是損傷，必須先區(qū)分正常溫度響應(yīng)與不可恢復的性能變化。

低輻照度下的性能

在方法指定的低輻照環(huán)境下測量電流電壓關(guān)系，注意光源均勻性與低電流測量準確性。弱光下漏電或并聯(lián)路徑的影響可能更明顯，不能按輻照比例直接縮放額定功率。對異常曲線應(yīng)檢查旁路、膜層缺陷及測量噪聲。

室外曝曬試驗

按規(guī)定安裝組件并記錄累計輻照和現(xiàn)場環(huán)境，曝曬后復核外觀與電氣性能。以累計光照而非僅日歷天數(shù)描述過程，更利于比較。該試驗能提供真實環(huán)境下的早期變化線索，但不能直接外推多年衰減或質(zhì)保壽命。

熱斑耐久試驗

結(jié)合薄膜單元排列和電連接方式選擇適用遮擋條件，使局部承受不均勻發(fā)電引起的應(yīng)力，并觀察溫度與損傷。遮擋條帶方向會改變受力電路。熱斑位置若與劃線或旁路路徑相關(guān)，應(yīng)按實際結(jié)構(gòu)分析，不能照搬晶硅單片遮擋結(jié)論。

紫外預處理試驗

以規(guī)定紫外光譜范圍和輻照劑量處理樣品，記錄表面溫度與照射均勻性，再按序列開展后續(xù)檢查。它關(guān)注封裝等材料受紫外后的狀態(tài)，不是只做可見光照明。變色、附著變化或密封劣化需與功率和絕緣變化一起判斷。

熱循環(huán)試驗

讓組件經(jīng)歷規(guī)定冷熱轉(zhuǎn)換，保持所需電氣連接和溫度監(jiān)測，試后復核外觀及電性能。組件溫度跟隨性和不同材料熱膨脹差異都會影響結(jié)果。間歇開路可能來自互連疲勞，若只在室溫做一次靜態(tài)測量，容易漏掉隨溫度出現(xiàn)的故障。

濕凍試驗

將濕熱階段與低溫凍結(jié)階段按規(guī)定銜接，記錄溫濕度過程并檢查試后密封、層間狀態(tài)及電氣變化。它與單純低溫存放不同，關(guān)注進濕后凍結(jié)引發(fā)的結(jié)構(gòu)影響。邊緣分層或接線盒黏結(jié)減弱，應(yīng)結(jié)合位置判斷進濕路徑。

濕熱試驗

在規(guī)定高溫高濕條件下處理組件，依程序恢復后測量電性能和絕緣。應(yīng)保存處理前后的同位置照片。透明導電層、邊緣封裝或互連受潮可能表現(xiàn)為功率下降與漏電增加，二者不必同時發(fā)生，不能用其中一項正常替代另一項檢查。

引線端強度

按引出端結(jié)構(gòu)施加相應(yīng)拉力、彎曲或扭轉(zhuǎn)載荷，觀察端子、引線與接線盒是否位移，并復核電連接。工裝夾持不應(yīng)替樣品分擔本應(yīng)承受的力。連接松動會增加接觸電阻，機械試驗后仍能導通不代表連接狀態(tài)完全未變。

濕漏電流

按規(guī)定使組件外表面處于濕潤導電環(huán)境，在電路與外部介質(zhì)之間實施測量，記錄電壓、測得的絕緣相關(guān)量和暴露部位。濕態(tài)更容易顯現(xiàn)邊緣密封或封裝針孔路徑。只對干燥組件測絕緣，不足以解釋雨露條件下的漏電風險。

機械載荷試驗

依照聲明安裝方式固定組件，向表面施加規(guī)定方向與分布的載荷，跟蹤變形和電連續(xù)性并完成試后檢查。支撐位置不同會改變受力?？蚣苌心軓臀坏ミB損傷，可能留下電性能問題，因此卸載后的平整外觀不是唯一觀察點。

冰雹試驗

使用符合方法要求的冰球沖擊指定位置，記錄沖擊條件和實際命中點，隨后檢查玻璃、封裝與輸出。邊緣、支撐附近及薄弱部位的響應(yīng)可能不同。沒有貫穿裂紋也不能排除內(nèi)部電連接受損，應(yīng)保留沖擊前后的電氣對比。

旁路二極管熱試驗

在保持實際散熱安裝的條件下使旁路二極管承受相應(yīng)電流，測量溫度或按方法取得結(jié)溫相關(guān)數(shù)據(jù)，試后核查器件功能。不可接近的二極管可涉及代表性專用樣品，但其熱路徑必須一致。器件過熱可能同時影響接線盒和周邊封裝。

光老煉試驗

在受控光照與溫度下使組件經(jīng)歷規(guī)定光老煉，階段性測量功率以判斷光照狀態(tài)趨穩(wěn)，再用于相關(guān)結(jié)果評價。它不是用強光任意加速老化。功率變化須結(jié)合材料體系和照射歷史解釋，不能把穩(wěn)定化過程中的變化一概歸為破壞性衰減。

讀薄膜組件報告，關(guān)鍵是把每次功率測量放回當時的光照歷史、溫度和應(yīng)力順序。對舊型號補充驗證，應(yīng)先確認合同是否明確引用該版，再確定樣品代表性；新型號的依據(jù)則須重新核對。本頁不承諾定型通過或戶外壽命，具體方法參數(shù)與判定須以適用正式文件為準。