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I/V曲線量測儀
集成電路失效分析流程中，I/VCURVE的量測往往是非破壞分析的第二步(外觀檢查排在第一步)，可見curve量測的重要性。隨著器件的pin腳數(shù)越來越多，傳統(tǒng)的curvetracer(多為手動)沒有辦法滿足時效的需求。Advanced推出的smart-1 auto curvetracer很好的滿足了客戶的需求，尤其是在BGA等通訊產(chǎn)品方面，具備安捷倫B1500和keithely4200無可比擬的便利性。國內(nèi)知名客戶有：上海宜碩、深圳宜智發(fā)、華為、珠海炬力、蘇州瑞薩、蘇州三星、東莞三星、SMIC、天水華天、無錫安盛、深圳沛頓、華測檢測等等
主要參數(shù)：
1. 高分辨率之I/V量測范圍,Voltage Measure Range可達(dá) 200mV ~ 200V（需搭配keithly2400）， Current Measure Range可達(dá)1uA ~ 1A，且測試Channel可從 64pin逐步擴(kuò)充至Max.4096 pin，以滿足客戶多元化之產(chǎn)品測試需求。
2. 機(jī)臺主要測試功能，包括:Open/Short Test、I/V Curve Analysis、IddMeasuring、Powered Leakage (漏電) Test
可協(xié)助客戶解決其產(chǎn)品在DC Fail之電性分析，并節(jié)省客戶上Functional Tester 之借機(jī)成本及時間。
3.采用電腦化控制的操作系統(tǒng)，比傳統(tǒng)的Curve Tracer更易于量取I/V data 及產(chǎn)生格式化的report。
4.Windows的操作系統(tǒng)，易學(xué)易懂，而所建立的Device之Pin Assignment可儲存在電腦中，未來可重復(fù)被使用，比傳統(tǒng)的Switching Matrix更便利省時。
5.機(jī)臺可搭配Probe Station及Emmission Microscope做漏電分析。
6.機(jī)臺本身除了可作產(chǎn)品的失效分析外，還可結(jié)合Auto Handler，做Mass Production之Open/ShortTest，可謂一機(jī)多用。
半導(dǎo)體失效分析設(shè)備，F(xiàn)IB雙束電鏡，探針臺，IC反向開封機(jī)，EMMI光發(fā)射顯微鏡
技術(shù)開發(fā)、技術(shù)服務(wù)、技術(shù)咨詢、技術(shù)轉(zhuǎn)讓；銷售機(jī)械電器設(shè)備、文化體育用品、實(shí)驗(yàn)室設(shè)備、辦公用品。(企業(yè)依法自主選擇經(jīng)營項(xiàng)目，開展經(jīng)營活動；依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目，經(jīng)相關(guān)部門批準(zhǔn)后依批準(zhǔn)的內(nèi)容開展經(jīng)營活動；不得從事本市產(chǎn)業(yè)政策禁止和限制類項(xiàng)目的經(jīng)營活動。)
儀準(zhǔn)企業(yè)集團(tuán)是一家專業(yè)從事電子產(chǎn)品分析測試設(shè)備研發(fā)生產(chǎn)以及國外先進(jìn)設(shè)備代理的整合商。旗下公司有儀準(zhǔn)科技（香港）有限公司、上海儀準(zhǔn)電子科技有限公司、儀準(zhǔn)科技（北京）有限公司、臺灣儀準(zhǔn)科技有限公司，形成了橫跨兩岸三地；集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、售后為一體的產(chǎn)業(yè)化模式。公司產(chǎn)品涵蓋半導(dǎo)體IC業(yè)、LCD（TFT)光電業(yè)、LED照明、太陽能等高科技領(lǐng)域。公司擁有一批有著多年豐富經(jīng)驗(yàn)的銷售人員、應(yīng)用技術(shù)支持及服務(wù)人員；不僅能提供完整的設(shè)備方案，還能提供相...