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二手LCR測試儀惠普HP4275A功能：惠普HP4275A電橋詳情：LCR測試儀惠普HP4275A報價：

HP4275ALCR電橋能快速測量電感L、電容C、電阻R、損耗因素D、品質(zhì)因素Q、電導G、電納B、電抗X和矢量阻抗|Z|及相位角θ,

其頻率范圍從100Hz到100kHz共13個可選頻率測試點。

測試電壓范圍為1mV～5Vrms, 適應于電路設(shè)計、產(chǎn)品實驗、質(zhì)量檢查多方面測量要求。

這種可變的測試信號為測量非線性阻抗元件，如電感和半導體器件帶來很大方便。

該儀表測量值用兩部分4?數(shù)字單元顯示，并可以把每10次測量值進行平均后以5?數(shù)字顯示。另外，它還提供測試元件時的信號

電壓和施加電流3位數(shù)顯示，以便監(jiān)視測試時的電壓、電流情況。

該儀表的電容測試范圍為0.01fF～1999.0mF（1毫微微法拉=10-15法法法拉）,電感為0.001nH～1999.9H, 電阻和阻抗為

0.001mΩ～19.999MΩ。所有測量精度為0.1%～10%, 這主要取決于測試信號的電壓和頻率。

測量電路既可以用并聯(lián)等效電路形式，也可以是串聯(lián)等效電路形式。

該儀表自動校準后，能使雜散電容減小到20pF，寄生電感減小到2000nH，電阻減小到0.5Ω,電導減小到5μs。頻率范圍:100Hz - 100KHz

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二手惠普HP4275A LCR測試儀HP4275A電橋

HP4275A HP4275A 4278A技術(shù)指標：

4278A測量參數(shù) C-D，Q，ESR，G

4278A測試信號

4278A頻率： 1kHz和1MHz±0.02%

信號電平： 0.1~1Vrms,±10%

(C≤20μf),以0.1Vrms步進

測量時間： 6.5ms/10ms/21ms(典型值）

測量范圍 測量參數(shù) 1kHz 1MHz正常模式

LCR測試儀惠普HP4275A1MHz高精度

4278A電纜長度補償 0,1或2m

Agilent 4278A比較器：對電容的10倉室分類，

對D、Q、ESR和G的合格/不合格測試

存儲卡插槽 外部存儲器的存儲卡插槽用

于對控制設(shè)置和比較極限進行分類和調(diào)用

（存儲卡可任選，參見下面的選件004）。

4278A一般技術(shù)指標Agilent 4278ALCR測試儀惠普HP4275A價格有讓，性能不減

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