Agilent 4263B依靠在任何測試頻率上都有25ms的測量速度來提高一產(chǎn)率，這種能力提高了電解電容順和變壓器測試的效率，4263B能檢查測試端子與被測件（DUT）之間的接觸狀況，這種功能保證在生產(chǎn)中用自動處理器進行合格。不合格的測試的可靠性，有故障的被測件一旦從處理器中取去該儀器便能立即恢復正常工作，因此處理器始終能以Zui高速度工作。
Ailent4263B的精度和寬的測量范圍是對電解電容器進行精密測量的很好保證。充電后的電容器可能經(jīng)常端放電，從而使儀器損壞。4263B的前端設計考慮了保護作用，能保持測試正常進行。
由于Ailent4263B能進行匝數(shù)比（N），互感（M）和直流電阻（DCR）測量，故數(shù)據(jù)計算和改變測試裝置不再是費時的工作（選件001）靈活的信號電平高速和電壓、電流監(jiān)視功能使4263B特別適用于測量與電平有關的被測件，始磁芯電感器。
測量功能
測量參數(shù)
|Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR
選件001
增加DCR（直流電阻），N（匝數(shù)比）和M（互感）測量
測量電路形式
串聯(lián)和并聯(lián)
數(shù)學功能
偏差和百分偏差
測試電纜長度
0m,1m,2m,4m,(頻率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(頻率=10kHz/20kHz);0m,1m(頻率=100kHz)
測試信號數(shù)據(jù)
測試頻率
100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz
選件002
增加20kHz測試頻率
頻率精度
±0.01%（頻率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV)
輸出阻抗
100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程）
交流測試信號電平
20mV~1Vrms,以5mVrms分檔
精度
±（10%+10mV)
內(nèi)部直流偏置
電平
1.5和2V；精度：±（5%+2mV)
外部直流偏置
0~+2.5V
測量范圍
參數(shù)
測量范圍
|Z|,R,X
1mΩ-100MΩ
|Y|,G,B
10nS-1000S
C
1pF-1F
L
10nH-100kH
D
0.0001-9.9999
Q
0.1-9999.9
θ
-180°~+180°
DCR
1mΩ-100MΩ
N
0.9-200（待定）
L,M
1μH-100H（待定）
Δ%
-999.99%-+999.99%
測量精度：
±0.1%(基本精度）（適用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL)
測量時間
模式
時間（典型值）
短
25ms
中等
65ms
長
500ms
測試信號電平監(jiān)視器：
電壓和電流
前端保護：
當充電電容器連接到輸入端時內(nèi)部電路便函起保護作用。Zui大電容器電壓為；在 Vmax≤250V時，Vmax=√(8/C)(典型值）；在Vmax≤1000V時，Vmax=√(2/C)(典型值），C單位為F。
顯示數(shù)字：
3，4或5位（可選擇）
修正功能：
開路/短路誤差為0：
消除由測量夾具中雜散寄生阻抗引起的測量誤差
負載：
利用一個已校器件作為參考來改善測量的精度
比較功能：
對每個一次測量參數(shù)和二次測量參數(shù)給出高/符合/低（HEGH/IN/LOW）比較結(jié)果
接觸檢查功能：
可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障。接觸檢查的附加時間為5ms
其它功能
存儲/調(diào)用：
可以存儲和從內(nèi)部非易失存儲器調(diào)用10個儀器設置
連續(xù)存儲功能：
若儀器補關斷或出現(xiàn)電源故障。儀器設置（直流偏置接通/切斷除外）將自動被存儲起來（在23°±5℃下≦72小時）
GPIB接口
所有控制設置，被測值和比較器信息
處理器接口
所有輸出信號均為負邏輯，光隔離的開路集電極。輸出信號包括HIGH/IN/LOW，不接觸，序號，測量結(jié)束和報警。輸入信號包括鍵鎖定和外觸發(fā)