MCW-2010A型（渦流）涂層測厚儀漆膜測厚儀廠家產(chǎn)品簡介

MCW-2010A型（渦流）涂層測厚儀是公司的新型產(chǎn)品。它采用抗干擾技術、測量精度高、數(shù)字顯示、功耗低、內置探頭全量程測量、機型小巧、操作簡捷；且具有欠電指示、統(tǒng)計、系統(tǒng)/零點/兩點校準功能，其性能已經(jīng)達到國際同類儀器的先進水平。

MCW-2010A型（渦流）涂層測厚儀電渦流測量原理
高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較，主要區(qū)別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。 

MCW-2010A涂層測厚儀應用領域

MCW-2010A涂鍍層測厚儀是一種經(jīng)濟實用型便攜式測量儀，能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量，既可用于實驗室，也可用于工程現(xiàn)場，廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域，是材料保護專業(yè)必備的儀器

MCW-2010A型（渦流）涂層測厚儀漆膜測厚儀廠家特點

操作便捷：.校準：可進行零點校準、兩點校準及系統(tǒng)校準 
電量：具有欠壓顯示功能 
蜂鳴提示：操作過程中有蜂鳴提示 
關機：具有自動關機和手動關機兩種方式 

MCW-2010A型（渦流）涂層測厚儀漆膜測厚儀廠家影響測量因素的有關說明

a 基體金屬磁性質

磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準；亦可用待涂覆試件進行校準。

b 基體金屬電性質

基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。

c 基體金屬厚度

每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。

d 邊緣效應

本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。

e 曲率

試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

f 試件的變形

測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。

g 表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。

MCW-2010A型（渦流）涂層測厚儀漆膜測厚儀廠家售后承諾

 我們的每一臺產(chǎn)品出廠時都經(jīng)過了嚴格的質量檢驗。
    我們?yōu)樗袃x器提供了可靠的質量和高度責任感的服務。該儀器享受一年的保修期,主機質量引起的故障返本公司兩次以上，予以更換新機。
本公司產(chǎn)品終身維護,保修條款以隨機保修書為準。