瑞士博勢Proce 550Leeb U卷紙硬度檢測儀

產品名稱：卷紙硬度檢測儀

規(guī)格型號： Equotip 550LeebU

品牌廠家：瑞士博勢Proceq

銷售代理：深圳市宇凱科技有限公司

瑞士博勢Proce 550Leeb U便攜式卷紙硬度檢測儀產品介紹：

Equotip 550 Leeb U 直接衍生于深受歡迎的Parotester。使用它，用戶可快速而準確地診斷紙卷缺陷、硬度不均和卷紙不均等情況，從而預防打印和再加工所遇到的問題。

Equotip 550 LeebU輕巧，便于攜帶，非常適合在倉庫或生產車間中進行紙卷硬度檢測，并可即時目測其硬度。

新一代 Equotip觸屏裝置提供由精心設計的界面，提高了檢測效率和改善用戶體驗。改進的軟件可提供互動向導、自動驗證進程、個性化選項和自定義報告功能。觸屏裝置與現(xiàn)有Parotester 沖擊裝置兼容。

全彩顯示屏使您能夠獲得Zui高質量的測量體驗和數(shù)據分析。特殊設計的外殼適于惡劣的現(xiàn)場使用環(huán)境。

瑞士博勢Proce 550Leeb U便攜式卷紙硬度檢測儀產品特色：

Equotip 550 Leeb U 沖擊裝置

沖擊能量：200 Nmm

默認單位：HLU（與 LU 相等）

極為耐用

支撐環(huán)：大頂冠，可安全和穩(wěn)定地沖擊彎曲表面

加載管：使用簡易，加載和釋放都在一個平滑的運動上

Equotip 觸屏裝置

向下兼容性：兼容現(xiàn)有 Parotester 沖擊裝置

支持條碼讀取器，便于快速、輕松和可靠地識別各種卷狀物

引導向導：預定義工作流程以增強流程可靠性和提高測量度

互動指南：通過屏幕通知獲取你在應用上Zui相關的設置

自定義報告：模塊化報告處理器允許自定義測量報告

支持 11 種語言和時區(qū)

免費提供 PC 軟件

外殼經過特殊設計，可用于嚴苛的現(xiàn)場環(huán)境 (IP 54)，包函背帶、集成支架和遮陽蓋

高分辨率彩色顯示屏

電池使用時長 > 8h

8 GB 閃存（> 1’000’000 個測量值）

雙核處理器，支持各種通信接口和外圍接口：探頭連接器、USB 主機、USB 裝置和以太網

紙卷分析和紙卷硬度檢測：

大紙卷

中型紙卷

小紙卷

薄膠片卷

薄膜卷

涂層卷

瑞士博勢Proce 550Leeb U便攜式卷紙硬度檢測儀產品技術參數(shù)：

Equotip Leeb 沖擊裝置

測量精度

± 6 HLU

沖擊能量

U 探頭為 200.0 Nmm

沖擊體質量

U 探頭為 26.0 克（0.92 盎司）

球壓頭

U 探頭為硬化鋼，直徑 50.0 毫米
（1.97 英寸）

儀器:

顯示屏

7” 彩色顯示屏 800 x 480 像素

內存

內置 8 GB 閃存
（可存儲多達 1000000 個測量值）

區(qū)域設置

公制和英制單位，支持多種語言和時區(qū)

電池

鋰聚合物，3.6 V、14.0 Ah

電池使用時長

> 8h（標準操作模式下）

電源輸入

12 V +/-25 % / 1.5 A

重量（顯示裝置）

大約 1525 g（含電池）

尺寸

250 x 162 x 62 mm

Zui高海拔

2500 m 海拔高度

濕度

< 95?%RH，非冷凝

操作溫度

0°C 至 30°C（32 至 86°F）
（正在充電且儀器正在運行）
0°C 至 40°C（32 至 104°F）
（正在充電且儀器關閉）
-10°C 至 50°C（14 至 122°F）
（未充電）

環(huán)境

適合室內與室外使用

IP 等級

IP 54

污染等級

2

安裝類別

2

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