美國賽默飛FEI場發(fā)射掃描電子顯微鏡

型號：Apreo

Apreo材料科學(xué)應(yīng)用

功能Zui為豐富的高性能SEM

Apreo 革命性的復(fù)合透鏡設(shè)計結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù)，可產(chǎn)生前所未有的高分辨率和信號選擇。這使得 Apreo成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，并且不會降低磁性樣品性能。

Apreo受益于獨(dú)特的透鏡內(nèi)背散射探測，這種探測提供卓越的材料對比度，即使在傾斜、工作距離很短或用于敏感樣品時也不例外。新型復(fù)合透鏡通過能量過濾進(jìn)一步提高了對比度并增加了用于絕緣樣品成像的電荷過濾?？蛇x低真空模式現(xiàn)在的Zui大樣品倉壓力為500Pa，可以對要求Zui嚴(yán)苛的絕緣體進(jìn)行成像。

通過這些優(yōu)勢（包括復(fù)合末級透鏡、探測和靈活樣品處理），Apreo可提供出色的性能和多功能性，幫助您應(yīng)對未來的研究難題。

體驗(yàn) Apreo SEM 帶來的優(yōu)勢

● 獨(dú)有的復(fù)合末級透鏡可在任何樣品（即使在傾斜時或進(jìn)行地形測量時）上提供優(yōu)異的分辨率（1kV 電壓下為 1.0 nm），而無需進(jìn)行電子束減速。 

● 作用極大的背散射探測 -始終保證良好的材料對比度，即使以低電壓和電子束電流并以任何傾斜角度對電子束敏感樣品進(jìn)行 TV速率成像時也不例外。 

● 無比靈活的探測器 -可將各個探測器部分提供的信息相結(jié)合，獲得至關(guān)重要的對比度或信號強(qiáng)度。

● 各種各樣的電荷緩解策略，包括樣品倉壓力Zui高為500 Pa 的低真空模式，可實(shí)現(xiàn)任何樣品的成像。

● 卓越的分析平臺提供高電子束電流，而且光斑很小。樣品倉支持三個EDS 探測器、共面的 EDS 和 EBSD 以及針對分析進(jìn)行了優(yōu)化的低真空系統(tǒng)。

● 樣品處理和導(dǎo)航極其簡單，具有多用途樣品支架和Nav-Cam+。

● 通過用戶指導(dǎo)、預(yù)設(shè)和撤消功能為新用戶提供專家級結(jié)果。