復達檢測具有CMA、CNAS等資質，服務面向全國，上海、北京、天津、石家莊、西安、太原、蘭州、烏魯木齊、呼和浩特、沈陽、哈爾濱、濟南、鄭州、武漢、合肥、南京、蘇州、杭州、長沙、南昌、成都、重慶、昆明、南寧、貴陽、福州、廣州、深圳等等地區(qū)均設有分部，專注分析、檢測、測試、鑒定、研發(fā)五大服務領域。

高阻硅檢測項目旨在確保半導體材料在高頻器件與集成電路制造中的性能可靠性，通過系統(tǒng)性評估預防工藝失效風險，提升產(chǎn)品良率與市場競爭力。

【檢測周期】5-7個工作日（供參考，可加急）

檢測項目

外觀質量、電阻率測試、電學性能測試、載流子壽命檢測、表面粗糙度評估、雜質含量分析、位錯密度測定、幾何參數(shù)驗證、電學性能測試、熱穩(wěn)定性評估、常規(guī)檢測、第三方檢測等。（具體以客戶實際情況為準）

檢測范圍

涵蓋直拉法單晶硅、區(qū)熔法單晶硅及多晶硅等高阻硅材料等。

檢測標準（部分）

1、 GJB 2918-1997 探測器級高阻區(qū)熔硅單晶片規(guī)范

2、 GJB 2918A-2017 探測器級高阻區(qū)熔硅單晶拋光片規(guī)范

3、 T/ZZB 1735-2020 晶體硅太陽電池組件用高阻隔絕緣背板

4、 JIS H 0602:1990 硅晶圓和硅片電阻率的測試方法

5、 GB/T 6617-1995 硅片電阻率測定 擴展電阻探針法

6、 GB/T 6617-2009 硅片電阻率測定 擴展電阻探針法

【檢測優(yōu)勢】

<專業(yè)技術人才>

擁有超過700名專業(yè)人員，其中技術團隊90%以上畢業(yè)于國家“985”“211”等重點高校，具有碩士、博士學位。

<專業(yè)儀器設備>

500余臺（套）專業(yè)儀器設備，包括紅外光譜（IR）、核磁共振（NMR）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體發(fā)射質譜儀（ICP-MS）、液相二級質譜（LC-MS-MS）、氣相色譜-質譜聯(lián)用儀（GC-MS）、高效液相色譜（HPLC）、氣相色譜儀（GC）、X射線熒光光譜(XRF)、ASE快速溶劑萃取儀等；

<資質認可>

獲得中國合格評定國家認可委員會頒發(fā)的實驗室認可證書（CNAS）、質量技術監(jiān)督局頒發(fā)的檢驗檢測機構資質認定證書（CMA）。

<服務客戶>

累計為公檢法單位、高校及科研機構、企業(yè)等超過10萬家客戶提供咨詢、分析、檢測、測試、鑒定研發(fā)等技術服務。

【檢測流程】

1、聯(lián)系客服、溝通檢測需求；

2、根據(jù)實際情況確定樣品遞送流程、上門取樣、送樣、郵寄樣品；

3、對樣品進行初步、獲取樣品的特性以及相關指標；

4、根據(jù)客戶的需求、根據(jù)檢測經(jīng)驗及標準方法、定制試驗方案；

5、進行試驗、得到試驗數(shù)據(jù)、出具測試報告；

6、完善的售后服務、可隨時咨詢；