11.1.正常工作狀態(tài) 此IC持續(xù)偵測(cè)連接在VDD和VSS之間的電池電壓，以及CS與VSS之間的電壓差，來(lái)控制充電和放電。當(dāng)電池電壓在過(guò)放電檢測(cè)電壓（VDL）以上并在過(guò)充電檢測(cè)電壓（VCU）以下，且CS端子電壓在充電過(guò)流檢測(cè)電壓（VCIP）以上并在放電過(guò)流檢測(cè)電壓（VDIP 11.2.過(guò)充電狀態(tài) ）以下時(shí)，IC的OC和OD端子都輸出高電平，使充電控制用MOSFET和放電控制用MOSFET同時(shí)導(dǎo)通，這個(gè)狀態(tài)稱為“正常工作狀態(tài)”。此狀態(tài)下，充電和放電都可以自由進(jìn)行。 注意：初次連接電芯時(shí)，會(huì)有不能放電的可能性，此時(shí)，短接 CS 端子和VSS 端子，或 者連接充電器，就能恢復(fù)到正常工作狀態(tài)。正常工作狀態(tài)下的電池，在充電過(guò)程中，一旦電池電壓超過(guò)過(guò)充電檢測(cè)電壓（VCU），并且這種狀態(tài)持續(xù)的時(shí)間超過(guò)過(guò)充電檢測(cè)延遲時(shí)間（TOC）以上時(shí)，HY2113 系列 IC會(huì)關(guān)閉充電控制用的MOSFET（OC端子），停止充 電，這個(gè)狀態(tài)稱為“過(guò)充電狀態(tài)”。 過(guò)充電狀態(tài)在如下 2 種情況下可以釋放：不連接充電器時(shí)， （1）由于自放電使電池電壓降低到過(guò)充電釋放電壓（VCR）以下時(shí)，過(guò)充電狀態(tài)釋放， 恢復(fù)到正常工作狀態(tài)。（2）連接負(fù)載放電，放電電流先通過(guò)充電控制用MOSFET的寄生二極管流過(guò)，此時(shí)，CS 端子偵測(cè)到一個(gè)“二極管正向?qū)▔航担╒f）”的電壓。當(dāng)CS端子電壓在放電過(guò)流 檢測(cè)電壓（VDIP）以上且電池電壓降低到過(guò)充電檢測(cè)電壓（VCU）以下時(shí)，過(guò)充電狀態(tài)釋放，恢復(fù)到正常工作狀態(tài)。

正常工作狀態(tài)下的電池，在放電過(guò)程中，當(dāng)電池電壓降低到過(guò)放電檢測(cè)電壓（VDL）以下，并且這種狀態(tài)持續(xù)的時(shí)間超過(guò)過(guò)放電檢測(cè)延遲時(shí)間（TOD）以上時(shí)，HY2113 系列 IC會(huì)關(guān)閉放電控制用的MOSFET（OD端子），停止放 電，這個(gè)狀態(tài)稱為“過(guò)放電狀態(tài)”。 當(dāng)關(guān)閉放電控制用 MOSFET 后，CS 由 IC內(nèi)部電阻上拉到 VDD，使 IC 耗電流減小到 休眠時(shí)的耗電流值，這個(gè)狀態(tài)稱為“休眠狀態(tài)”。 過(guò)放電狀態(tài)的釋放，有以下兩種情況：（1）連接充電器，若CS端子電壓低于充電過(guò)流檢測(cè)電壓（VCIP）， 當(dāng)電池電壓高于過(guò)放電檢測(cè)電壓（VDL）時(shí)，過(guò)放電狀態(tài)釋放，恢復(fù)到正常工作狀態(tài)。 （2）連接充電器，若CS端子電壓高于充電過(guò)流檢測(cè)電壓（VCIP），當(dāng)電池電壓高于過(guò)放 電釋放電壓（VDR）時(shí)，過(guò)放電狀態(tài)釋放，恢復(fù)到正常工作狀態(tài)