定義與目的：IEC60068-2-13是國際電工委員會（IEC）制定的環(huán)境試驗標準之一，它規(guī)定了在運輸、儲存或使用過程中可能遭遇低氣壓環(huán)境的試樣測試方法，重點評估電子元器件和設備在低氣壓條件下的性能穩(wěn)定性。

關鍵技術參數：

氣壓（kPa）與等效海拔（m）的對應關系，如84kPa對應1500m，54kPa對應5000m等。

測試艙需滿足的氣壓控制精度，通常為±5%或±0.1kPa（以較大值為準）。

對于散熱試樣，應參照IEC 60068-2-2中Bd/Be測試要求配置溫度補償系統(tǒng)。

測試實施要點：

預處理階段需按產品規(guī)范進行溫濕度平衡。

氣壓變化速率建議≤15kPa/min（特殊要求除外）。

標準測試持續(xù)時間選擇范圍為5min（基礎驗證）至16h（長期效應評估）。

定義與目的：IEC60068-2-14是國際電工委員會制定的環(huán)境試驗標準之一，它規(guī)定了冷熱沖擊試驗（也稱為溫度變化試驗）的方法和要求。該試驗通過模擬產品在實際使用中可能遇到的溫度驟變，評估其對極端溫度變化的適應性。

關鍵技術參數：

溫度范圍：根據產品規(guī)格設計，常見如-40℃至+85℃，部分工業(yè)級產品溫度范圍可更寬。

溫度變化速率：快捷的溫度轉換，通常要求在數秒至數十秒內完成轉移。

循環(huán)次數：根據產品使用環(huán)境和風險等級，冷熱交替循環(huán)次數一般為10至100次。

溫度保持時間：每個環(huán)境條件下產品需保持時間確保充分熱透，如15分鐘至30分鐘。

測試方法：

包含兩箱法和三箱法，分別適用于不同測試需求。兩箱法使用兩個試驗箱，分別提供高溫和低溫環(huán)境，樣品在兩個試驗箱之間進行轉換；三箱法使用三個試驗箱，分別提供高溫、低溫和常溫環(huán)境，樣品在高溫和低溫箱之間進行轉換，常溫箱用于樣品預處理和恢復。