采用 InstaView? 技術(shù)的 AFG31000系列為內(nèi)置波形發(fā)生應(yīng)用程序、具有實時波形監(jiān)測功能并采用智能用戶界面的一款高性能任意波函數(shù)發(fā)生器。

驗證連接 DUT 后輸出波形

InstaView? 技術(shù)用在任意波函數(shù)發(fā)生器上可直接查看連接 DUT后的實時波形，無需使用示波器或其他設(shè)備，節(jié)省測試時間并避免因阻抗不匹配導(dǎo)致的實驗錯誤。

一分鐘內(nèi)完成雙脈沖測試

AFG31000 是一款包括內(nèi)置雙脈沖測試軟件的函數(shù)發(fā)生器。現(xiàn)在，您可以在一分鐘內(nèi)直接在觸摸顯示屏上生成兩個具有可變脈沖寬度（從20 ns 到 150 μs）的波形。無需使用外部 PC 應(yīng)用程序或手動編輯。

測量開關(guān)器件參數(shù)并評估 MOSFET 和 IGBT 等功率器件的動態(tài)性能。

高保真度信號與模式

打開包裝后，在連續(xù)模式下每通道可以生成高達(dá) 16 M點的jingque長波形。可變采集時鐘技術(shù)確保您不再丟失任何波形數(shù)據(jù)。產(chǎn)品功能可升級，您可以進(jìn)一步提高測試水平并只需花費傳統(tǒng) AWG十分之一的成本進(jìn)行復(fù)雜波形的創(chuàng)建和編輯。

產(chǎn)品選配功能升級，您可以：

將內(nèi)存擴(kuò)展為每通道 128 M 點（選件 MEM）

多達(dá) 25 項輸入和控制的序列/觸發(fā)/選通模式（選件 SEQ）用于：循環(huán)、等待、跳轉(zhuǎn)、轉(zhuǎn)至、外部觸發(fā)輸入、手動觸發(fā)、定時觸發(fā)和SCPI 命令，以便創(chuàng)建時序靈活、復(fù)雜的長波形。

簡化任意波形創(chuàng)建

內(nèi)置的 ARB 編輯工具 ArbBuilder 包括創(chuàng)建、編輯和傳輸任意波形的所有操作，無需連接 PC 或向 PC 傳輸文件。幅度和偏置數(shù)據(jù)存儲在波形中，因此，在加載標(biāo)準(zhǔn)化 ARB 后，無需調(diào)整設(shè)置。

智能用戶界面

使用超大的 AFG 觸摸屏更快地學(xué)習(xí)和工作。 9英寸的屏幕的工作原理和智能設(shè)備類似，因此，您可以通過手指縮放和滾動以便輕松找到設(shè)置和參數(shù)并查找常用設(shè)置的快捷鍵。

優(yōu)異的指標(biāo)

單或雙通道型號

接到 50Ω 負(fù)載時的輸出幅度范圍 1 mVp-p 至 10 Vp-p

基本 (AFG) 模式

25 MHz、50 MHz、100 MHz、150 MHz 或 250 MHz 正弦波形

250 MSa/s、500 MSa/s、1 GSa/s 或 2GSa/s 采樣率

14 位垂直分辨率

連續(xù)、調(diào)制、掃描與突發(fā)模式

各通道均具有 128 k 點的任意波形內(nèi)存

模式

連續(xù)模式和選配序列、觸發(fā)和選通模式

各通道均具有 16 M 點的任意波形內(nèi)存（可選 128 M 點）

在包含循環(huán)、調(diào)整和等待事件的序列模式下多達(dá) 256 步

變量采樣時鐘 1 μSa/s 至 2 GSa/s

小波形長度 168 點，粒度為 1 點

將噪聲和抖動降低 10 倍

由于噪音本底較低且輸出幅度低至 1mVpp，噪音和抖動技術(shù)規(guī)格比上一代技術(shù)好 10 倍，可以確保測試的清晰度和保真度。

型號模擬通道輸出頻率記錄長度采樣率垂直分辨率

AFG31021	1	25MHz	16MSa/通道	250MS/s	14位
AFG31051	1	50MHz	16MSa/通道	500MS/s	14位
AFG31022	2	25MHz	16MSa/通道	250MS/s	14位
AFG31052	2	50MHz	16MSa/通道	500MS/s	14位
AFG31101	1	100MHz	16MSa/通道	1GS/s	14位
AFG31151	1	150MHz	16MSa/通道	2GS/s	14位
AFG31102	2	100MHz	16MSa/通道	1GS/s	14位
AFG31152	2	150MHz	16MSa/通道	2GS/s	14位
AFG31251	1	250MHz	16MSa/通道	2GS/s	14位
AFG31252	2	250MHz	16MSa/通道	2GS/s	14位