薄膜力學(xué)斷層掃描測(cè)試儀是一款高精度檢測(cè)設(shè)備，專用于薄膜材料的剪切強(qiáng)度與剝離強(qiáng)度測(cè)試。

剪切強(qiáng)度測(cè)試用于薄膜分層剪切分析，可獲取層間強(qiáng)度梯度數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)薄膜強(qiáng)度剖面高精度掃描

剝離強(qiáng)度測(cè)試用于表征薄膜與基材間的界面粘結(jié)強(qiáng)度，評(píng)估界面結(jié)合性能，為材料優(yōu)化和工藝優(yōu)化提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支撐

與傳統(tǒng)PEEL剝離測(cè)試設(shè)備相比，該設(shè)備能夠測(cè)量薄膜內(nèi)部不同深度的剪切強(qiáng)度以及薄膜與基材間的剝離強(qiáng)度，測(cè)試結(jié)果穩(wěn)定可靠，重復(fù)性和再現(xiàn)性優(yōu)異。

核心功能

1、多尺度力學(xué)測(cè)試：支持薄膜的剝離強(qiáng)度與不同深度剪切強(qiáng)度測(cè)試，可全面分析力學(xué)性能

2、高精度測(cè)控系統(tǒng)：采用高靈敏度檢測(cè)元件與穩(wěn)定控制系統(tǒng)，確保數(shù)據(jù)可靠、重復(fù)性優(yōu)異

3、原位顯微觀察：應(yīng)用高清相機(jī)實(shí)時(shí)觀察剝離與剪切過程，清晰呈現(xiàn)界面變化細(xì)節(jié)

4、智能測(cè)試平臺(tái)：電腦軟件控制，操作簡單直觀，降低人為操作誤差

5、數(shù)據(jù)管理分析：實(shí)時(shí)采集與保存數(shù)據(jù)，支持歷史數(shù)據(jù)查看與深度分析

使用設(shè)備操作簡便，適用于實(shí)驗(yàn)室及科研機(jī)構(gòu)對(duì)薄膜材料的力學(xué)性能研究與分析，為材料研發(fā)和工藝優(yōu)化提供可靠的數(shù)據(jù)支持，同時(shí)該設(shè)備還適用生產(chǎn)線對(duì)薄膜材料的品質(zhì)檢測(cè)。