edx 4500h x熒光光譜儀是利用xrf檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對si、p、s、al、mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用xrf技術(shù)可對高含量的cr、ni、mo等重點關(guān)注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。

性能特點

高效超薄窗x光管，指標達到國際先進水平
Zui新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計數(shù)率達到100000cps，精度更高。在合金檢測中效果更好
sdd硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
天瑞儀器專利產(chǎn)品—信噪比增強器（sne），提高信號處理能力25倍以上
低能x射線激發(fā)待測元素，對si、p等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品型號：edx 4500h
產(chǎn)品名稱：x熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（na）到鈾（u）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
分析精度：0.05% （含量高于96%以上的樣品、21次測試穩(wěn)定性）
測量時間：30秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5ev
管壓：5kv-50kv
管流：50μa-1000μa
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：ac 110v/220v
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35%-70%
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65kg

標準配置

高效超薄窗x光管
sdd硅漂移探測器
數(shù)字多道技術(shù)
信噪比增強器 sne
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu)
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵

應用領(lǐng)域

合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（rohs、鹵素）