1、跌落測試介紹:
跌落測試是主要用來模擬未包裝或者已包裝的產(chǎn)品在搬運期間可能受到的自由跌落損傷,檢驗產(chǎn)品抗意外沖擊的能力。通常跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機率做為參考標準,落下表面應該是混凝土或鋼制成的平滑、堅硬的剛性表面(如有特殊要求應以產(chǎn)品規(guī)格或客戶測試規(guī)范來決定)。
對于不同國際規(guī)范即使產(chǎn)品在相同重量下但掉落高度也不相同,例如:手持型產(chǎn)品(如手機,MP3等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm~ 150cm不等,IEC對于≦2kg的手持型產(chǎn)品建議應滿足100cm之掉落高度不可損壞,而MIL則建議掉落高度為122cm,Intel對手持型產(chǎn)品(如手機)則建議落下高度為150cm。試驗的嚴苛程度取決于跌落高度、跌落次數(shù)、跌落方向。中鑒檢測可靠性實驗室包裝跌落試驗機,Zui高可跌落200cm。
2、跌落測試通常產(chǎn)品范圍:
(1)計算機類:電腦、顯示屏、主機、電腦元器件、醫(yī)療設備等精密儀器等;
(2)電子通信類:手機、射頻器、電子通信元器件等;
(3)電器類:家電、燈具、變電器等各類家電電器設備;
(4)其他:包裝箱、運輸設備等。
3、跌落測試常規(guī)參考標準:
(1)GB/T2423.8電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落
(2)GB/T 4857.5包裝 運輸包裝件 跌落試驗方法
(3)IEC 60068-2-32電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落
(4)ISTA 3A
4、跌落測試主要參數(shù):
(1)跌落高度
(2)跌落次數(shù)
(3)跌落表面
5、跌落測試受限制因素:
(1)高度
(2)樣品外形(針對自由跌落)
6、中鑒檢測優(yōu)勢
(1)專業(yè)的技術(shù)團隊為您的產(chǎn)品量身定做可靠性設計及測試方案;
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(3)對于您所需要的可靠性方面的技術(shù)問題及測試問題,您都會得到Zui專業(yè)的解答;
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