本測(cè)試儀針對(duì)不同測(cè)量要求，分為4種測(cè)試模式：
　　1、快速測(cè)試，可以在極短的時(shí)間內(nèi)判斷一塊保護(hù)板的功能好壞。
　　2、測(cè)試，可以在很短的時(shí)間內(nèi)，獲得保護(hù)板的各項(xiàng)的測(cè)試數(shù)據(jù)，各項(xiàng)電壓參數(shù)到1mv，自耗電到0.1ua，過(guò)電流數(shù)值到0.01a，內(nèi)阻參數(shù)到1mω。
　　3、延時(shí)時(shí)間測(cè)試，可以測(cè)試過(guò)保護(hù)板的過(guò)壓保護(hù)延時(shí)，過(guò)放電保護(hù)延時(shí)，以及過(guò)電流保護(hù)延時(shí)時(shí)間，各項(xiàng)時(shí)間參數(shù)到1ms，給測(cè)試數(shù)據(jù)提供Zui準(zhǔn)確的設(shè)置參數(shù)，從而獲得Zui快的測(cè)試速度與Zui高的度。
　　4、讀碼測(cè)試，可以測(cè)試并讀出保護(hù)板的碼片數(shù)據(jù)測(cè)試內(nèi)容和度指標(biāo)：
　　
　　1、自耗電測(cè)試，在3.6v供電情況下，保護(hù)板的自耗電電流，到0.1ua。
　　2、內(nèi)阻測(cè)試，在3.6v供電情況下，保護(hù)板的p-到b-之間的內(nèi)阻，到1mω。
　　3、過(guò)充電測(cè)試
　　a）在快速測(cè)量模式中，加過(guò)充電壓，在允許時(shí)間內(nèi)，測(cè)試是否關(guān)閉。
　　b）在測(cè)試模式中，加逐漸升高的電壓，測(cè)試關(guān)閉時(shí)的電壓數(shù)據(jù)，并用延時(shí)時(shí)間參數(shù)加以修正，數(shù)據(jù)到1mv。
　　
　　4、過(guò)充電恢復(fù)測(cè)試
　　a）在快速測(cè)量模式中，過(guò)過(guò)充電恢復(fù)電壓，在允許時(shí)間內(nèi)，測(cè)試是否打開(kāi)。
　　b）在測(cè)試模式中，加逐漸減少的電壓，測(cè)試打開(kāi)時(shí)的電壓數(shù)據(jù)，并用延時(shí)時(shí)間參數(shù)加以修正，數(shù)據(jù)到1mv
　　5、過(guò)放電測(cè)試
　　a）在快速測(cè)試模式中，加過(guò)放電測(cè)試電壓。在允許時(shí)間內(nèi)，測(cè)試是否關(guān)閉。
　　b）在測(cè)試模式中，加逐漸減少的電壓，測(cè)試關(guān)閉時(shí)的電壓數(shù)據(jù)，并用延時(shí)時(shí)間參數(shù)加以修正，數(shù)據(jù)到1mv
　　
　　6、待機(jī)功耗測(cè)試。
　　a）僅在測(cè)試模式中有效，在保護(hù)板過(guò)放電保護(hù)之后，測(cè)試保護(hù)板的自耗電電流，數(shù)據(jù)到0.1ua。
　　7、過(guò)放電保護(hù)恢復(fù)測(cè)試，在保護(hù)板放電保護(hù)后，加規(guī)定恢復(fù)電壓情況下，給保護(hù)板加充電電壓，然后判斷保護(hù)板是否恢復(fù)放電。
　　8、過(guò)電流測(cè)試，在3.0v供電情況下，給保護(hù)板加逐漸增大的負(fù)載電流，測(cè)試保護(hù)板關(guān)閉時(shí)的電流，并用延時(shí)時(shí)間加以修正，數(shù)據(jù)到0.01a
　　9、識(shí)別電阻／熱敏電阻1測(cè)試，測(cè)試范圍0.1～999kω，數(shù)據(jù)到0.1kω。
　　10、識(shí)別電阻／熱敏電阻2測(cè)試，測(cè)試范圍0.1～999kω，數(shù)據(jù)到0.1kω。