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電子元器件失效分析
電子元器件技術的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎,元器件可靠性工作的根本任務是提高元器件的可靠性。
失效模式
開路,短路,漏電,功能失效,電參數(shù)漂移,非穩(wěn)定失效等
常用手段
電測:連接性測試 電參數(shù)測試 功能測試
無損檢測:
開封技術(機械開封、化學開封、激光開封)
去鈍化層技術(化學腐蝕去鈍化層、等離子腐蝕去鈍化層、機械研磨去鈍化層)
微區(qū)分析技術(FIB、CP)
制樣技術:
開封技術(機械開封、化學開封、激光開封)
去鈍化層技術(化學腐蝕去鈍化層、等離子腐蝕去鈍化層、機械研磨去鈍化層)
微區(qū)分析技術(FIB、CP)
顯微形貌分析:
光學顯微分析技術
掃描電子顯微鏡二次電子像技術
國軍標測試、gjb150可靠性檢測、檢測環(huán)境可靠性測試、汽車電子產(chǎn)品檢測
汽車零部件電子產(chǎn)品檢測技術服務
萬博檢測從事第三方公正檢測、咨詢服務。公司擁有的檢測技術團隊與經(jīng)驗豐富高素質(zhì)的實驗室管理人員。 萬博檢測已建設成為一個集環(huán)境可靠性試驗、材料性能測試、電磁兼容(EMC)、安規(guī)測試、化學分析、理化檢測為一體的大型綜合性檢測服務機構。服務能力覆蓋軍用/民用、電子電器、汽車、材料、航空航天、通用設備、船舶、機械、醫(yī)療器械、紡織玩具、橡膠塑料、運輸包裝等應用領域,現(xiàn)有規(guī)模、測試能力和水平處于行內(nèi)檢測機構的高水平。 ...