Zeiss研究級光學顯微鏡、熒光光源及配套圖像分析系統(tǒng)。根據(jù)細礫巖、砂巖、粉砂巖、粘土巖及碳酸鹽巖等巖石類型不同，巖石薄片鑒定的內容也不盡相同。其中細礫巖及砂巖主要通過鑒定其碎屑顆粒、雜基、膠結物等成分與含量，以及結構、顯微構造、含油情況、成巖作用、成因分析等方面做出針對性的鑒定分析。

對于粘土巖更要針對其所含機械混入物成分和含量，自生礦物種類大小、形狀和含量，生物化石的類型和含量、以及結構、構造和次生變化等做鏡下鑒定。

對于碳酸鹽巖的偏光顯微鏡下觀察，主要內容包括礦物成分、結構組分和結構類型、顯微結構、成巖作用、孔隙和裂縫、環(huán)境分析、巖石綜合命名等。另外，圖像分析系統(tǒng)可進行孔喉結構的定量表征分析。