高低溫測試

高低溫箱具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到國標(biāo)GB/T10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件，適用于按GB/T2423.1、2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》對產(chǎn)品進(jìn)行低溫及高溫試驗(yàn)。適用于電工電子產(chǎn)品(包括元件、設(shè)備及其它產(chǎn)品)的高低溫度。

試驗(yàn)介紹

在自然環(huán)境中，溫度和濕度是不可分割的兩個自然因素，不同地區(qū)由于不同的地理位置，產(chǎn)生的溫度、濕度效應(yīng)也各不相同。本試驗(yàn)是用來確認(rèn)產(chǎn)品在溫濕度氣候環(huán)境條件下儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、濕度和曝露持續(xù)時間。

高低溫測試

高溫試驗(yàn)詳細(xì)介紹：本試驗(yàn)是用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時間。參考的測試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T2423.2，IEC 60068-2-2，IEIA 364， MIL-STD-810F等。

低溫試驗(yàn)介紹：本試驗(yàn)是用來確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時間。參考的測試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T2423.1，IEC 60068-2-1，EIA 364， MIL-STD-810F等。

溫度沖擊試驗(yàn)介紹：本試驗(yàn)是確定產(chǎn)品在溫度急劇變化的氣候環(huán)境下儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、駐留時間、循環(huán)數(shù)。參考的測試標(biāo)準(zhǔn)：IEC60068-2-14，GB2423.22,GJB150.5等

TTS(GDW-010)實(shí)驗(yàn)室提供多臺不同尺寸的常規(guī)恒溫恒濕箱與步入式恒溫恒濕箱，根據(jù)不同類型的產(chǎn)品，提供測試服務(wù)。

設(shè)備的用途

該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗(yàn)。

該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國標(biāo)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T2423.2. IEC 60068-2-2，IEIA 364，MIL-STD-810F等。