在實(shí)際應(yīng)用中，羅氏線圈常見(jiàn)的故障有：

開(kāi)路故障：線圈內(nèi)部導(dǎo)線出現(xiàn)斷裂，導(dǎo)致無(wú)法正常測(cè)量。

短路故障：線圈匝間或與其他部分短路，影響測(cè)量準(zhǔn)確性。

信號(hào)衰減異常：可能由于線圈受損、老化或受外界因素影響，導(dǎo)致輸出信號(hào)異常衰減。

精度下降：例如因溫度變化、外界干擾等使測(cè)量精度不再滿足要求。

接觸不良：與被測(cè)導(dǎo)體或連接線路接觸不緊密，產(chǎn)生測(cè)量誤差或不穩(wěn)定。

屏蔽失效：屏蔽層損壞等導(dǎo)致屏蔽效果變差，易受外界干擾。

積分電路故障：積分部分出現(xiàn)問(wèn)題，使得電流還原不準(zhǔn)確。

線圈變形：受外力等因素導(dǎo)致線圈形狀改變，影響性能。