歷史資料歸檔說(shuō)明：源文發(fā)布日期為2015-02-20。以下內(nèi)容反映當(dāng)時(shí)情況，時(shí)間表述僅指源文發(fā)布時(shí)，請(qǐng)勿視為Zui新動(dòng)態(tài)。原始資料。

日本日立公司宣布，其研發(fā)的透射電子顯微鏡（MET）已于2015年2月完成研制，成為全球分辨率Zui高的同類設(shè)備。該項(xiàng)目于2010年啟動(dòng)，歷經(jīng)多年攻關(guān)后正式完工。

該設(shè)備可實(shí)現(xiàn)43皮米的分辨率，數(shù)值低于大多數(shù)原子半徑的一半。儀器體積龐大，需占用一整間房間。日立發(fā)言人指出，高分辨率主要得益于通過(guò)特殊設(shè)計(jì)的線纜與電路對(duì)電子束的高度集中。

針對(duì)外部環(huán)境振動(dòng)與磁場(chǎng)干擾易引發(fā)透鏡像差的問(wèn)題，研發(fā)團(tuán)隊(duì)在顯微鏡底座安裝了聲學(xué)阻尼材料以削弱震動(dòng)影響，并在設(shè)備外圍增設(shè)磁屏障。這些設(shè)計(jì)有效降低了外部因素對(duì)觀測(cè)精度的制約。

透射電子顯微鏡由德國(guó)物理學(xué)家恩斯特·魯斯卡于20世紀(jì)30年代發(fā)明。該技術(shù)利用電子束替代光子進(jìn)行成像，突破了傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的放大極限，可深入分析材料的微觀結(jié)構(gòu)與原子成分。日立方面表示，新設(shè)備將支持對(duì)原子位置的直接觀測(cè)，有助于推動(dòng)具備廣泛用途的新型材料研發(fā)。