環(huán)境掃描電子顯微鏡、核磁共振波譜儀

中國科學(xué)院廣州化學(xué)研究所分析測試中心

事業(yè)部--高工--

產(chǎn)品型號: quanta 200

生產(chǎn)廠家:荷蘭fei公司

儀器介紹:fei/飛利浦新推出的quanta系列掃描電子顯微鏡成為目前技術(shù)先進(jìn)、操作方便、維護(hù)簡單的掃描電鏡產(chǎn)品，主要用于各種材料的表面形貌觀察和分析，目前已成為材料科學(xué)、生命科學(xué)研究中不可缺少的工具。新型環(huán)境掃描電鏡實(shí)現(xiàn)了人們所追求的在自然狀態(tài)下樣品觀察的目標(biāo)。數(shù)字化、微機(jī)控制掃描電鏡，完全取代模擬圖像，多種記錄方式，方便網(wǎng)上傳輸，并可用鼠標(biāo)完成全部操作功能。

主要附件：edax能譜儀，背散射探頭，低真空模式探頭，環(huán)掃模式探頭，高溫操作臺，冷臺

技術(shù)參數(shù):

· 分辨率：高真空模式 3.0nm at 30kv, 10nm at 3kv ;低真空模式 3.0nm at 30kv, 12nm at 3kv ;環(huán)境真空模式 3.0nm at 30kv ;背散射電子像 4.0nm at 30kv

· 樣品室壓力Zui高達(dá)2600pa

· 加速電壓200v ～ 30kv，可連續(xù)調(diào)節(jié)

· 樣品臺移動(dòng)范圍：x=y=50mm

· 分冷臺和熱臺操作。冷臺：溫度檢測精度0.5℃；操作溫度范圍為：-5℃～60℃。熱臺：操作溫度Zui高為1000℃。

· edax能譜能量分辨率130ev，成分范圍b~u，束斑影響區(qū)1μm左右

技術(shù)特點(diǎn):

· fei esem(環(huán)境掃描電鏡)技術(shù), 可在高真空、低真空和環(huán)境真空條件下對各種導(dǎo)電、非導(dǎo)電及活體樣品進(jìn)行觀察和分析。

· 可獲得所有真空條件下的二次電子、背散射電子觀察和微觀元素分析。

· 環(huán)境掃描模式可檢測活體的、濕的樣品?？砂惭b低溫冷臺、加熱臺等進(jìn)行樣品的動(dòng)態(tài)觀察和分析。

應(yīng)用范圍:納米材料、復(fù)合材料、陶瓷材料、金屬材料、高分子材料、薄膜材料、建筑材料、生物材料、電子材料、導(dǎo)體與非導(dǎo)體地礦、考古等表面微觀形貌觀察及成分分析。

核磁共振波譜儀

產(chǎn)品型號: av400

生產(chǎn)廠家:瑞士bruker 公司

儀器介紹:bruker av400雙通道全數(shù)字化傅立葉超導(dǎo)核磁共振譜儀，是54mm 標(biāo)腔 long hold time 超屏蔽磁體，磁場穩(wěn)定性（1h）小于 4.0 hz/小時(shí)。

技術(shù)參數(shù):

· 雙通道高性能功放:1h/19f范圍Zui大功率為50w，平均功率為10w，在31p～15 nZui大功率為150 w，平均功率為10w。雙通道射頻, 通道相位分辨率小于0.0006度，頻率分辨率小于0.005hz。

· bbo高分辨液體探頭：寬帶正相觀察探頭，寬帶范圍：bb＝ 31p- 19f。配有主動(dòng)屏蔽的z－梯度線圈，自動(dòng)調(diào)諧atm附件，探頭變溫范圍：－150～＋180℃，控溫精度：0.1℃/℃。

· dul雙頻探頭：dul5 mm雙頻正相觀察寬帶探頭，配有z－梯度線圈，探頭變溫范圍：－150～＋180℃，控溫精度：0.1℃/℃。

· cp/mas魔角固體寬帶探頭：4 mm的轉(zhuǎn)子mas固體探頭。射頻功放x核為300w，h核為100w。

應(yīng)用范圍:目前nmr在有機(jī)化學(xué)、無機(jī)化學(xué)、藥物化學(xué)、物理化學(xué)、材料化學(xué)等研究領(lǐng)域得到充分的應(yīng)用，在物質(zhì)結(jié)構(gòu)和分子動(dòng)態(tài)的研究中發(fā)揮了不可取代的功能。憑借它可以取得豐富的分子結(jié)構(gòu)信息，使其應(yīng)用范圍日益廣泛。

應(yīng)用范圍:重要應(yīng)用具有反光材料的使用上，用以鑒別和分析各種金屬及合金的組織結(jié)構(gòu)、形貌、夾雜、形態(tài)統(tǒng)計(jì)和分析、表面鍍層質(zhì)量、厚度、芯片的結(jié)構(gòu)、滲透組織和深度等；清晰顯示材料內(nèi)部組織構(gòu)造；應(yīng)用于工廠或?qū)嶒?yàn)室進(jìn)行材料質(zhì)量鑒定、失效分析，原材料的檢驗(yàn)或?qū)Σ牧咸幚砗蠼鹣嘟M織的研究分析；電鏡樣品制備檢驗(yàn)，特別適合有色金屬材料顯微分析。